판매용 중고 LEO / ZEISS 1560 #9069353

LEO/ZEISS 1560 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 다양한 샘플의 고품질 이미징을 제공하여 연구 및 산업 응용 분야에 이상적입니다. 특허를받은 in-column field emission gun (FEG) 으로 구동되며 최대 72 메가 픽셀의 이미지를 캡처 할 수있는 강력한 고해상도 검출기가 있습니다. 이 시스템은 넓은 심도의 현장 (field-to-noise ratio) 과 뛰어난 신호 대 잡음 비율을 제공하도록 설계되었으며, 연구자들은 높은 배율을 가진 다양한 재료에서 초미세 미세 구조를 연구 할 수 있습니다. 레오 1560 셈 (LEO 1560 SEM) 은 특유의 자동 초점 (auto-focus) 기능을 비롯해 다양한 기능을 갖추고 있어, 상세한 분석을 위해 관심 영역에 쉽게 집중할 수 있습니다. 또한, SEM은 다양한 각도에서 전자를 감지하여 동적 이미징 기능을 제공 할 수 있습니다. 이것은 작은 특징과 구조의 대규모 매핑을 허용합니다. 즉, 현미경은 복잡한 3D 분석을 수행하는 데 사용될 수 있으며, 그렇지 않으면 시간이 많이 걸리고 다른 현미경으로 달성하기가 어려울 것입니다. SEM은 또한 진공실 (vacuum chamber) 이 필요하지 않은 채 라이브 샘플을 관찰하는 데 사용할 수있는 강력한 저진공 모드 (Low Vacuum Mode) 를 가지고 있으며, 이는 기본 환경에서 생물학적 샘플과 샘플을 보는 데 이상적입니다. 또한, SEM은 수작업 데이터 획득 기술에 대한 운영자의 의존도를 낮추는 데 도움이 되는 탁월한 고급 현미경 자동화 도구 (Advanced Microscope Automation Tools) 를 제공합니다. 예를 들어, 현미경은 샘플 스캔, 스테이지 동작, 이미지 처리 등 여러 작업을 자동으로 수행할 수 있습니다. 마지막으로, SEM은 샘플 직접 관찰을위한 라이트 시트 (light sheet) 를 제작하는 독특한 기능을 갖추고 있으며, 최종 이미징 결과에서 명암과 해상도를 최대화하는 데 도움이됩니다. ZEISS 1560 (ZEISS 1560) 은 다양한 샘플에 대한 고해상도 이미징 및 분석을 제공하는 강력한 SEM으로, 광범위한 연구 및 산업 응용에 적합합니다. 이 제품은 이미징 (Imaging), 분석 (Analysis) 을 쉽고 빠르게 할 수 있는 다양한 기능을 갖추고 있으며, 탁월한 자동화 및 운영자 제어 기능을 제공합니다.