판매용 중고 LEO / ZEISS 1560 #9067762

LEO/ZEISS 1560 주사 전자 현미경 (SEM) 은 재료 표면 및 서브 표면 구조를 자세히 분석하기위한 고급 현미경 장비입니다. 완전히 통합 된 턴키 시스템은 고품질의 SE (Secondary Electron) 이미징, 원소 매핑 및 분석을위한 EDS (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) 및 자동 초점 이온 빔 (FIB) 기능과 같은 최첨단 기능을 제공합니다. LEO 1560에는 SE 검출기, 다중 주문 EDXS 검출기 및 ESI Tomography 검출기가 있습니다. SE 검출기는 다양한 해상도와 다양한 어플리케이션을 위한 대형 이미징 스케일 (scale) 을 제공하는 2 차 전자 검출기입니다. EDXS 감지기 (EDXS Detector) 를 사용하면 분포와 상대적 풍부 (Relative Abundance) 를 표시하여 다양한 재료에 대한 원소 분석을 수행할 수 있습니다. ESI 단층 촬영 탐지기 (ESI Tomography Detector) 는 3 차원으로 샘플의 단층 재구성을 제공하여 사용자가 샘플 구조를 더 잘 이해할 수 있도록 합니다. ZEISS 1560에는 자동화된 이온 빔 (ion-beam) 열이 있어 사용자가 단면과 에치 샘플을 사용할 수 있습니다. 이 열에는 진동 충격 와이어 (Oscillating Impact Wire) 가 포함되어 있어 가장 중요한 샘플에서도 정밀 에칭 및 절개가 가능합니다. 이온 건 (ion gun) 은 또한 여러 층의 재료를 쉽게 이미징할 수 있도록 함으로써 고해상도 이미징을 제공합니다. 1560 에는 빠른 이미지 세분화 (fast image segmentation) 를 포함하여 결과를 분석 및 구성하는 강력한 소프트웨어 툴을 제공하는 디지털 이미지 플랫폼 (digital image platform) 이 포함되어 있습니다. 이 패키지에는 또한 고급 응용 프로그램 분석을위한 입자 크기 분석 및 입자 평균 도구 (averaging tool) 가 포함되어 있습니다. LEO/ZEISS 1560 SEM은 최적의 이미징 성능을 위해 다양한 샘플 준비 액세서리 (옵션) 를 갖춘 완전 밀폐형 진공 장치를 사용합니다. 고성능 조명 머신은 높은 밝기, 광시야각, 뛰어난 이미지 디테일 (image detail) 을 제공하는 반면, 고급 샘플 포지셔닝 단계는 향상된 샘플 연구를 위한 정밀 이동을 제공합니다. 마지막으로, LEO 1560 SEM 은 다양한 이미징 및 분석 액세서리와 호환되며, 이 액세서리를 손쉽게 추가하여 기능을 향상시킬 수 있습니다. ZEISS 1560 SEM (ZEISS 1560 SEM) 은 강력하고 신뢰할 수 있는 툴로서, 다양한 애플리케이션 요구 사항에 적합한 고급 기능과 강력한 기능을 제공합니다. 광범위한 자동화/이동성을 제공하므로 데이터/결과를 빠르고 정확하게 수집할 수 있습니다. 이 고성능 주사 전자 현미경은 전 세계 실험실을위한 귀중한 연구 도구입니다.