판매용 중고 LEO / ZEISS 1530 #293624721

LEO/ZEISS 1530 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 과학자 및 연구 기관이 재료의 미세 구조를 관찰하고 분석하는 데 사용하는 강력한 이미징 장비입니다. 치수가 0인 샘플 표면의 고해상도 이미지를 생성합니다. LEO 1530 SEM은 나노 미터 (nm) 보다 작은 기능을 식별하는 데 사용할 수있는 탁상 도구입니다. 또한 Schottky FE-SEM (Field Emission Source) 을 통합하여 뛰어난 이미징 성능과 해상도를 구현할 수 있습니다. FE-SEM (FE-SEM) 은 오염 물질 및 기타 외부 요인으로 인한 오작동을 줄여 전반적인 이미징 품질을 높이도록 설계되었습니다. ZEISS 1530 Scanning Electron Microscope의 배율은 10x에서 400,000x입니다. 여기에는 최대 1600 만 픽셀의 해상도로 디지털 스틸 이미지를 찍을 수있는 Edmund Type 563 카메라가 포함되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 샘플 부분과 전체 서피스 이미지를 자세히 분석할 수 있습니다. 이미지를 디지털 파일에 직접 저장하여 나중에 볼 수도 있고, 또는 추가 처리를 할 수도 있습니다. 1530 SEM 의 다른 기능으로는 최대 4 개의 이미지를 동시에 처리할 수 있는 디지털 이미지 프로세서 (digital image processor) 가 있습니다. 또한 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 과 자동 초점, 고각 환형 암흑 장 검출기 (HAADF) 를 모두 포함합니다. 이 두 가지 기능은 샘플 이미지의 해상도와 대비를 향상시킵니다. 세엠 (SEM) 에는 다양한 상황에서 연구에 적합한 다양한 진공/환경 제어 옵션도 포함되어 있습니다. 여기에는 습도 챔버 (Hidity Chamber), 가열 범위 및 대기 압력 및 구성 제어가 포함됩니다. 이러한 기능을 통해 사용자는 샘플을 중심으로 환경을 정확하게 제어하고 다른 수준의 응력 (stress) 이나 변형 (strain) 하에서 관찰할 수 있습니다. 전반적으로 LEO/ZEISS 1530 Scanning Electron Microscope는 매우 강력한 이미징 도구이며 모든 연구 기관에 귀중한 자산입니다. 광범위한 기능으로, 다양한 샘플에서 미세 (microscopic) 기능에 대한 자세한 이미지와 분석을 제공할 수 있습니다.