판매용 중고 LEO / ZEISS 1455 #9162511
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ID: 9162511
Scanning electron microscope (SEM)
Nano prober
Cryogenic assembly
(2) LEYBOLD coolpak 4000 cryo compressors
Model no: Coolpak 4000
(2) VAT Gate valves, model no: 12144-PA44-0001
(2) OERLIKON LEYBOLD sensors, model no: 230070
(2) LEYBOLD 3000 CL coolvac cryo compressors
Main body
(1) KAMMRATH & WEISS ZR stage controller
(1) Zyvex IC nanoprober system
Four needle prober module
(1) HITEK Power supply, Model no: G303 / 56
(1) Varian TV 301NAV turbo pump controller, model no: 9698918S011
(1) HITEK power supply, model no: 1P100 / 502 / 05 A1021120
Chiller
ATC Applied thermal control chiller, model no: KTR6000
Controllers
(1) LEYBOLD center one
(1) LEYBOLD coolvac SC
(2) LEYBOLD coolvac PS
(1) Dell Pentium 4 desktop computer
(1) Desktop computer, model no: 3475239010200
(1) KAMMRATH and WEISS micro module controller
(1) KAMMRATH and WEISS joystick prober controller
(1) Prober stage piezo and motor controller
(1) KEITHLEY 708A switching system
(1) Analog way graphic switcher 2
(16) Computers and video inputs
Seamless switcher
Mixer / Scaled data output, model no: GSW2814
(1) Analog way 1x graphic switcher remote controller unit, model no: RCU 2811A
Miscellaneous
(1) COHU CCD camera, model no: 22521040 / 0000.
LEO/ZEISS 1455는 다양한 실험실 및 연구 설정에 사용하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 장치 는 과학자 들 이 "나노미터 '계 의 물질 을 연구 하고, 고도 의 물질 을 신속 히 분석 하는 데 매우 귀중 한 도구 이다. LEO 1455의 주요 구성 요소에는 전자 원, 탐지 시스템, x-y 단계 및 전자 총이 포함됩니다. 전자원은 저에너지, 고류 전자의 빔을 방출하며, 이는 샘플을 통과하여 탐지 시스템에 도달합니다. 그런 다음, 검출 시스템은 전자와 샘플 사이의 상호 작용을 기록합니다. ZEISS 1455의 x-y 단계는 규제 된 변환 단계로, 두 개의 독립 축으로 샘플의 단계별 동작을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 전자의 빔 (beam) 으로 샘플을 정확하게 표적화할 수 있고, 이미지의 배율을 정확하게 제어 할 수 있습니다. 전자 총은 다양한 구성 (configuration) 에 다양한 빔 크기를 사용할 수 있습니다. 1455는 나노 미터 스케일에서 구조와 표면의 고해상도 이미지를 생성합니다. 밝은 장과 어두운 장 영상을 모두 제공하며, 사용자는 2 차 전자 영상, 2 차 중성 원자 영상, 백스캐터 전자 영상과 같은 여러 이미징 모드 중에서 선택할 수 있습니다. 이 장치는 이미지 해상도를 향상시키기 위해 정전기 렌즈 (electrostatic lenses) 와 자기 렌즈 (magnetic lenses) 를 포함하는 고급 전자 광학으로 설계되었습니다. LEO/ZEISS 1455 의 에너지 해상도는 매우 높아서 일부 구성에서 최대 3 nm 의 해상도를 달성 할 수 있습니다. 이 장치는 픽셀 당 전자가 최대 6 개인 이미지를 생성 할 수 있으며, 전자 탐지기 (electron detector) 는 저에너지 및 고에너지에서 신호를 감지 할 수 있습니다. 이 장치의 높은 신호 대 잡음 비율은 10 nm 이하의 기능도 감지 할 수 있습니다. 레오 1455 (LEO 1455) 에는 샘플 배치부터 이미징 매개변수 조정까지 다양한 자동 매개변수가 있습니다. 이 제품은 7 인치 터치스크린 인터페이스를 통해 사용자 친화적으로 설계되었으며, 이를 통해 현미경을 빠르고 쉽게 제어할 수 있습니다. 전반적으로 ZEISS 1455는 신뢰할 수 있고 강력한 SEM을 찾는 과학자와 연구원들에게 훌륭한 선택입니다. 매우 작은 규모로 고해상도 (high resolution) 이미지를 제공할 수 있으므로 나노 재료 분석 (nanomaterials analysis) 및 고급 재료 연구를위한 귀중한 도구입니다.
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