판매용 중고 LEO / ZEISS 1455 #293679343

LEO/ZEISS 1455 주사 전자 현미경 (SEM) 은 표면의 고해상도 이미지를 얻기 위해 다양한 과학 분야에서 사용되는 분석 기기입니다. 고급, 효과적인 성능 칼럼, 에너지 분산 X 선 탐지기, 진공 시스템 (vacuum system) 이 장착되어 있어 다양한 고급 이미징 기능이 제공됩니다. LEO 1455 SEM은 고에너지 전자의 집중 빔을 사용하여 샘플의 표면을 '스캔' 합니다. 이 기구 의 독특 하고 매우 강력 한 특징 은 수차 를 바로잡는 능력, 부식 이나 화학적 손상 으로 인한 "이미징 '의 왜곡 이다. 이를 통해 전자 빔 (electron beam) 은 이미징 품질에 해롭지 않고 도달하기 어려운 샘플의 영역을 정확하게 스캔 할 수 있습니다. 전자 의 "에너지 '는 조절 이 가능 하여," 샘플' 에 있는 다른 물질 들 의 상세 한 영상 과, 투명 한 물체 의 영상 을 할 수 있다. ZEISS 1455 (ZEISS 1455) 에는 샘플 지형의 고해상도 매핑을 제공하는 자동 스티가미터가 내장되어 있습니다. 1455에는 특수 에너지 분산 X- 레이 (EDX) 검출기 (EDX) 가 장착되어 있는데, 이는 샘플에서 방출되는 에너지 분산 X- 레이를 스캔 할 때 측정하는 중요한 구성 요소입니다. 이 탐지기 (detector) 는 샘플의 원소 맵 (elemental map) 을 작성하는 데 사용되며, 이는 매우 높은 해상도로 샘플의 구성을 분석 할 수 있습니다. LEO/ZEISS 1455에는 높은 진공 시스템도 장착되어 있습니다. 강력한 부스터 펌프 (pump) 가 포함되어 있어, 최고의 진공 성능을 보장하고 다양한 이미징 표면과 깊이를 화질이나 해상도의 손실 없이 이미징 (image) 할 수 있습니다. LEO 1455는 재료 과학, 나노 기술, 화학 분석 등의 응용을위한 강력한 주사 전자 현미경입니다. 첨단 수차 교정기, EDX 검출기 (EDX Detector), 신뢰성 있는 진공 시스템 (Vacuum System) 과 결합된 고급 이미징 기능으로, 고해상도 이미지와 샘플의 원소 구성을 획득하려는 연구자와 과학자들에게 훌륭한 선택입니다.