판매용 중고 LEO / ZEISS 1450VP #293755515

LEO/ZEISS 1450VP 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 나노 미터 해상도를 갖는 재료 및 커넥터의 초단계 구조를 측정하고 분석하는 데 사용되는 고해상도 이미징 기기입니다. 나노 스케일 재료 치수의 피쳐를 측정하기 위해 서브 미크론 해상도 이미지를 제공 할 수 있습니다. LEO 1450VP는 반도체 검사, 생의학 연구, 재료 과학 및 고장 분석에 이상적인 초단계 세부 사항의 뛰어난 검출을 제공합니다. ZEISS 1450VP SEM은 고급 기술 및 하드웨어 구성 요소를 사용하여 가능한 최고 해상도의 이미지를 제공합니다. 높은 진공 (Vacuum) 및 복합 렌즈를 갖춘 듀얼 렌즈 열 디자인; 고해상도 디지털 카메라; 다중 기술 제어 플랫폼. 이러한 최첨단 구성 요소 조합은 사용자에게 향상된 이미징 기능을 제공합니다. 1450VP SEM의 다목적 설계는 광범위한 전자 빔 및 검출기 구성을 허용합니다. 1 차 빔 생성을위한 현장 방출 (field-emission) 기술과 풀 컬러 디스플레이를 갖춘 컨트롤 상태 패널 (Control Status Panel) 을 통해 쉽게 작동할 수 있습니다. 또한 Everhart-Thornley 2 차 전자 검출기, Backscattered Electron Detector, Cathodoluminescence Detector 및 EDX microprobe와 같은 다양한 검출기가 원소 분석을 위해 장착 될 수 있습니다. LEO/ZEISS 1450VP는 Windows 및 Mac 운영 체제를 위한 소프트웨어 솔루션도 제공합니다. 자동 이미지 최적화 및 디지털 이미지 분석과 같은 특수 기능은 Scanning Electron Microscope Imaging and Analysis 응용 프로그램을 통해 제공됩니다. 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스 (user-friendly interface of the software) 는 응용 프로그램의 특정 샘플 및 재료 매개변수에 따라 설정을 사용자정의하는 기능을 제공합니다. LEO 1450VP는 고해상도 이미징 및 분석을 위한 혁신적이고 안정적인 SEM 시스템입니다. 최신 하드웨어/소프트웨어 구성요소를 통해 다양한 구성의 서브미크론 해상도 (sub-micron resolution) 이미지를 제공할 수 있습니다. 사용자 친화적인 인터페이스와 빠른 이미지 캡처 기능을 갖춘 ZEISS 1450VP 는 재료 분석 (materials analysis) 에서 테스트 (testing) 및 특성화 (characterization) 에 이르기까지 다양한 어플리케이션을 위한 탁월한 성능을 제공합니다.