판매용 중고 LEO / ZEISS 1450VP #293597117

LEO/ZEISS 1450VP 스캐닝 전자 현미경은 나노 스케일 (nanoscale) 범위의 전자 이미지를 확대하고 검사하기 위해 설계된 고급적이고 정교한 실험실 장비입니다. SEM (Scanning Electron Microscope) 은 SEM (Scanning Electron Microscope) 으로서 매우 고해상도의 표본 이미지를 생성할 수 있으며, 이를 통해 나노미터 척도에서 구조 기능을 관찰 할 수 있습니다. LEO 1450VP는 "현장 방출 (field emission)" SEM으로, 흡착 물질 대신 필라멘트 형 전자원을 사용하여 검출기 반응, 고해상도, 보다 안정적인 이미징 시스템을 개선 할 수 있습니다. "셈 '에는 표본 을 주사 하면서 전자 가 통과 하는 목표 와" 렌즈' 가 포함 되어 있는데, 이것 은 해상도 가 확대 되고 개선 된 "이미지 '를 만든다. 이를 통해 연구원들은 원자 위치, 화학 결합과 같은 표본에 대한 작은 세부 사항을 관찰 할 수 있습니다. 전자 공급원은 0.75nm까지 이미징 해상도를 생성 할 수 있으며, 현미경에는 0.2nm의 더 높은 해상도를 허용하는 "보조 (secondary)" 기둥도 포함됩니다. 이것은 개별 원자, 분자와 같은 가장 작은 특징의 명확한 그림을 제공 할 수 있습니다. 또한, SEM 은 역산포 전자 와 2 차 전자 를 얻을 수 있는 능력 을 가지고 있어서, 연구가 들 은 1 차 전자 가 볼 수 없는 특징 들 에 더 접근 할 수 있다. 해상도 외에도 ZEISS 1450VP는 3 가지 작동 모드 인 저/고전압 스캔 및 텅스텐 필라멘트 현미경을 제공합니다. 이 모드들은 표본과 화학적 조성물의 고품질 이미지 (high-quality image) 와 대형 지도 (large map) 를 모두 캡처할 수 있으며, 주어진 시스템을 테스트하거나 평가하기 위해 전자 수송 특성을 시뮬레이션할 수 있습니다. SEM은 또한 독점적 인 "브리프 스캔 (Brief Scan)" 모드를 갖추고 있으며, 지루하고 오랜 기동이 필요하지 않은 광역 결과를 빠르게 얻을 수 있습니다. 가장 높은 정확성을 보장하기 위해 1450VP (1450VP) 에는 현미경의 모든 기능을 제어 할 수있는 여러 고급 소프트웨어 프로그램 (advanced software program) 도 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어에는 직관적인 빠른 스캐닝 인터페이스 (quick scanning interface) 가 포함되어 있어 관심 영역을 신속하게 만들고 재설정할 수 있으며, 몇 초 안에 이미징을 시작할 수 있습니다. 또한 통합 정렬 (Integrated Alignment) 기능을 통해 물리적 치수를 정확하게 측정하고 결과의 정확성을 빠르고 쉽게 평가할 수 있습니다. 전반적으로 LEO/ZEISS 1450VP 스캐닝 전자 현미경은 모든 연구 연구소에 매우 강력하고 귀중한 도구입니다. 그것 을 사용 하면 "나노스케일 '관측 과 영상 을 할 수 있으며, 연구가 들 은 전례 없이 분자 와 원자 의 특징 에 대한 조그마 한 세부점 들 을 살펴볼 수 있다. 따라서, 그것 은 과학 과정 을 대폭 개선 하고 가속화 시켜, 앞서 불가능 했던 명료 함 과 해결책 의 결과 를 가져올 수 있다. 그렇다.