판매용 중고 LEO / ZEISS 1440VP #9255473

LEO/ZEISS 1440VP SEM (Scanning Electron Microscope) 은 원자 수준 이미징을위한 최첨단 현미경 도구입니다. 고급 기능은 저전압 전자 빔을 통해 고해상도 이미징을 가능하게합니다. 이는 마이크로 전자 부품의 고장 분석 (failure analysis) 과 같이 고해상도 이미징이 필요한 민감한 어플리케이션에 적합합니다. LEO 1440VP SEM은 1kV 및 5kV 품종으로 제공되며 최대 해상도 이미지는 2nm입니다. 또한 렌즈 내 검출기 (in-lens detector) 디자인이 특징이며 소음이 적은 고속 이미징이 가능합니다. 이 설계는 또한 매우 넓은 시야를 제공하여, 왜곡 (distortion) 을 최소화하면서 큰 샘플의 이미징을 가능하게 합니다. 그 에 더하여, 현미경 에는 전자 광선 을 "샘플 '이나" 백스캐터' 탐지기 에 자동 정렬 하기 위한 "트랜스미시오미터 '가 장착 되어 있다. ZEISS 1440VP 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 의 다른 기능에는 고속 이미징 모드가 포함되어 있으며, 이를 통해 이미지를 빠르게 보고 분석 할 수 있습니다. 또한 이 기능을 사용하면 매우 짧은 노출 (exposure) 으로 여러 이미지를 캡처할 수 있으며, 뛰어난 해상도를 유지합니다. 현미경은 또한 광범위한 검출기를 지원하여 에너지 필터링 이미징 (energy-filtered imaging) 및 원소 분포 매핑 (elemental distribution mapping) 과 같은 다양한 이미징 모드를 캡처 할 수 있습니다. 1440VP 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 뛰어난 감도를 가진 고해상도 이미지를 제작할 수 있는 강력한 이미징 도구입니다. 광범위한 기능을 통해 고장 분석 (failure analysis), 요소 분포 매핑 (element distribution mapping), 섬세한 재료 및 컴포넌트의 미세 구조 분석 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 이 고급적이고 견고한 SEM은 복잡한 미세 구조의 분석을 가능하게하며, 전자 공학, 재료 과학, 나노 기술 (nanotechnology) 등의 분야에서 일하는 과학자 및 엔지니어에게 적합한 선택입니다.