판매용 중고 LEO / ZEISS 1400 Series #9300313

LEO / ZEISS 1400 Series
ID: 9300313
Scanning Electron Microscopes (SEM).
LEO/ZEISS 1400 시리즈는 주사 전자 현미경 (SEM) 유형을 나타냅니다. 초고해상도 (UHD) 이미지를 제작할 수 있고, 다양한 전압으로 작동하며, 표면의 깊이가 다른 물체를 연구할 수 있게 해준다. 현미경이 제공하는 이미징 기능은 재료 과학 (materials science), 나노 기술 (nanotechnology), 생물학 (biology) 과 같은 많은 분야의 연구에 이상적입니다. SEM 자체는 3 가지 주요 구성 요소 (전자 총, 샘플 챔버 및 전자 광학) 로 구성됩니다. 첫째, 샘플 챔버에는 검사 할 샘플이 있습니다. 이 약실 은 보통 높은 진공 상태 에서 유지 되는데, 입자 와 공기 분자 들 이 "이미지 '를 왜곡 시키거나 방해 할 수 있기 때문 이다. 전자 총은 다른 각도로 샘플을 가로 질러 스캔 된 전자 빔 (electron beam) 을 생성하여 이미지 형성을 가능하게합니다. 이 빔을 사용하면 작동 전압에 따라 0.1 나노 미터 (0.1 나노 미터) 에서 10,000 배 (1 만 배) 범위의 배율에서 샘플을 볼 수 있습니다. 마지막으로, 전자 광학 (electron optics) 은 샘플에서 흩어진 전자를 감지하고 증폭시키는 데 사용됩니다. 그런 다음 이러한 전자는 이미지 프로세서로 전송되어 실제 그림을 생성합니다. LEO 1400 시리즈는 서피스 피쳐, 재료 특성, 개체의 크기와 모양 등 모든 종류의 엔티티를 측정할 수 있습니다. 전하, 전류, 저항과 같은 전기 특성을 측정하는 데에도 사용될 수 있습니다. 그 에 더하여, 그것 은 조성적 분석 에 사용 될 수 있으며, 또한 어떤 재료 의 "그레인 '의 평균 크기 를 측정 하는 데 사용 될 수 있다. 이 시리즈와 함께 제공되는 다양한 소프트웨어 패키지를 사용하면 특히 쉽게 사용할 수 있습니다. 여기에는 현미경의 빔 및 이미지 디스플레이 (beam and image display) 를 제어하는 작업 소프트웨어, 미세한 이미지의 자세한 분석 결과를 제공하는 분석 소프트웨어, 샘플의 세부 3D 구조를 재구성 할 수있는 재구성 소프트웨어 (reconstruction software) 가 포함됩니다. 또한 파노라마 조정 (Panoramic Adjustment) 을 제공하여 샘플을 빠르고 정확하게 포커싱하고 조작할 수 있습니다. ZEISS 1400 시리즈는 다양하고 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 연구 및 교육 응용 분야를 갖추고 있습니다. 탁월한 이미징 기능과 종합적인 소프트웨어 패키지 (Software Package) 는 모든 실험실에서 강력한 도구입니다.
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