판매용 중고 LEO 435VP #185414

ID: 185414
Scanning electron microscope, (SEM) Resolution: 4 nm 5 axis computer controlled stage is mounted in a specimen chamber measuring 300 x 265 x 190 mm.
LEO 435VP는 Zeiss가 생산 한 고급 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 최대 500,000 배까지 배율 할 수 있으며 원소 분석을위한 EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) 시스템이 내장되어 있습니다. 이것은 표본의 물리적 구조에 대한 추가 정보를 제공하는 데 도움이됩니다. LEO 435 VP에는 dynaFEG 소스가 있으며, 이는 전자 총 기술의 최신 발전입니다. 이는 전자빔의 밝기 및 안정성을 향상시켜, 해상도가 높은 이미지와 분광학적 데이터 (spectroscopic data) 를 가능하게 합니다. 10 nm 미만의 해상도에서 2 차 전자 이미지 또는 역 산란 전자 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 SEM에는 고강도 X- 선 생성기도 있습니다. 표준 분석의 경우 최소 구성이 0.2% 인 요소를 감지 할 수 있습니다. 에즈 (EDS) 시스템과 엑스선 발전기 (X-ray generator) 를 모두 포함시키면 지질 및 생물학적 샘플을 분석하기에 이상적인 도구가된다. 운영자의 사용 편의성을 높이기 위해 435VP 는 다양한 기능을 갖춘 능률적인 사용자 인터페이스를 갖추고 있습니다. 이미지 해상도 및 입자 플럭스를 변경하기 위한 여러 설정이 있습니다. 이를 통해 분석되는 샘플의 SEM을 세밀하게 조정할 수 있습니다. 또한 435 VP에는 고급 자동화 기능도 있습니다. 이를 통해 최소 연산자 입력으로 동일한 프로그램을 여러 번 반복 할 수 있습니다. 또한 샘플 내에서 입자를 자동으로 감지하고 식별 할 수있는 통합 분석 시스템 (Integrated Analysis System) 이 있습니다. 전반적으로 LEO 435VP는 전자 현미경을 스캔 할 때 훌륭한 선택입니다. 고급 전자 총과 X- 선 발전기는 상세한 이미지와 분광 데이터를 생성합니다. 또한 여러 자동 설정과 직관적인 사용자 인터페이스가 있습니다. 이것은 연산자 시간을 줄이고 실험의 정확성을 향상시키는 데 도움이됩니다.
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