판매용 중고 KLA / TENCOR Amray 4200 #9279327

KLA/TENCOR Amray 4200 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양하고 강력한 장비로, 다양한 재료와 샘플을 놀랍도록 시각화하고 조사 할 수 있습니다. 장비의 중심에는 에버 하트 손튼 (Everhart Thornton) 유형의 정전기 객관식 렌즈 시스템을 특징으로하는 고해상도 변속기 전자 현미경이 있습니다. 이 고해상도 전자원은 최대 4nm (4nm) 의 이미징 해상도를 가능하게하여 복잡한 표본 구조를 탐사 할 수 있습니다. 또한 KLA Amray 4200은 샘플 표면의 상세한 이미지를 생성하기 위한 최첨단 검출기 (State-of-the-Art Detector Unit) 와 자동화된 이미지 획득 및 처리를 용이하게 하는 완전 통합 샘플 처리 머신을 갖추고 있습니다. TENCOR Amray 4200은 X- 선 미세 분석, 영상, 표면 분석, 2 차 전자 영상 및 스캔 전자 현미경을 포함한 다양한 실험을 수행 할 수 있습니다. SEM 인 렌즈 (in-lens) 및 외부 전달 이온 빔 기술은 얇은 코팅 증착, 이온 밀링, 리소그래피 및 입자 빔 유도 표면 수정 및 수정을 포함하여 어느 때보 다 광범위한 실험을 가능하게한다. 사용자 정의 실험을 지원하기 위해 Amray 4200에는 스테이지 먼지 제거 도구, 자동 샘플 장착, 현장 내 (in-situ) 관찰 프레임, 샘플 초점 조정 등 다양한 보조 도구가 있습니다. 통합 단계 (integrated stage) 는 정확한 자동 샘플 이동을 가능하게 하며, 최적의 이미지 획득을 위해 다양한 각도로 기울일 수 있습니다. 표본 "챔버 '는 암자 로 밀봉 되어 있고 질소" 가스' 를 정제 할 수 있어, 조종 된 환경 이 필요 한 표본 들 과 함께 사용 하는 데 이상적 이다. KLA/TENCOR Amray 4200은 최대 200mm 크기의 샘플을 스캔할 수 있으며, 큰 샘플을 사용할 경우에도 사용자가 쉽게 샘플에 액세스하고 검사할 수 있습니다. SEM 의 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface of the SEM) 는 사용자가 이미징 프로세스를 안내하고, 많은 샘플에 필요한 데이터를 한 곳에 배치하여, 시간과 자원을 절약하는 데 도움이 됩니다. KLA Amray 4200은 다용도와 신뢰성이 뛰어나며, 에너지 효율성을 염두에 두고 설계되었습니다. 이것은 연구 및 산업 실험실 모두에게 좋은 선택입니다. 이 자산은 기계적 (mechanical), 전기적 (electrical) 보호 장치로 설계되었으며 운영 수준 및 에너지 사용량을 지속적으로 모니터링하여 효율적인 운영을 보장합니다. TENCOR Amray 4200은 신뢰할 수 있고 강력한 SEM으로, 다양한 재료와 어플리케이션에 적합합니다.