판매용 중고 KLA / TENCOR 8100XPR #293820957

ID: 293820957
빈티지: 1998
Critical Dimension Scanning Electron Microscopes (CD-SEM) DELL Computer 1998 vintage.
KLA/TENCOR 8100은 다양한 과학 및 산업 연구 응용을 위해 설계된 고급 고성능 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 클라이 8100 (KLA 8100) 은 고해상도 이미징 및 원소, 화학, 구조 분석을 제공하는 고급 분석 도구입니다. TENCOR 8100은 다양한 탐지기 (detector) 를 사용하여 보조, 백스캐터, cathodoluminescence, 전자 채널 및 x- 레이와 같은 다양한 유형의 신호를 감지하여 샘플에서 데이터를 캡처합니다. 높은 해상도와 정확도를 제공하기 위해 8100에는 가변 각도 미니 오브젝티브 렌즈 (variable-angle mini-objective lens) 와 광학 요소가 장착되어 있습니다. 이 조합은 1 차 전자 빔 (electron beam) 경로에서 매우 미세한 조정을 가능하게하므로 개별 원자 수준에서 매우 상세한 이미지를 제공합니다. 원소 분석을 위해 KLA/TENCOR 8100에는 에너지 분산 x- 선 분광법 (EDS) 을위한 단일 및 다중 에너지 x- 선 검출기가 장착되어 있습니다. 이를 통해 정확성과 민감도가 높은 광범위한 요소를 완전히 파괴적으로 측정할 수 있습니다. 또한, KLA 8100 은 자동화된 샘플 스테이징 시스템으로, 다양한 관심 분야에 걸쳐 샘플을 신속하게 로드하고 탐색할 수 있습니다. 이 시스템은 샘플 변경에 필요한 시간을 줄여 사용자 피로 (User Fatigue) 를 줄이고 생산성을 높여줍니다. TENCOR 8100은 다양한 유형의 샘플 준비를 위해 주변, 환경 및 극저온 단계를 갖추고 있습니다. 환경 단계는 액체 침수 기능을 제공하여 침수 된 샘플을 관찰 할 수 있습니다. 극저온 단계는 극한의 온도에서 고 휘발성 샘플의 영상을 허용합니다. 또한 8100 은 캡처된 이미지를 손쉽게 조작하고, 색상과 명암을 조작하고, 분석 결과를 절약하여 동료와 공유할 수 있는 다양한 이미지 (이미지) 소프트웨어를 갖추고 있습니다. KLA/TENCOR 8100은 다재다능한 고성능 스캐닝 전자 현미경으로, 많은 연구 및 산업 응용 분야에 귀중합니다. 매우 상세한 이미지와 정교한 샘플 분석 (analysis of sample) 을 제공할 수 있으며, 다양한 기능을 통해 다양한 응용프로그램을 처리할 수 있습니다.
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