판매용 중고 KLA / TENCOR 8100XPR #293649625

KLA/TENCOR 8100XPR은 고해상도 이미징 및 어플리케이션에 대한 더 큰 제어를 제공하도록 설계된 차세대 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 특허를 획득한 X-ray 프로젝션 기술을 활용한 KLA 8100XPR은 이미징과 분석 모두에서 전례없는 수준의 디테일과 정확성을 제공합니다. TENCOR 8100XP-R은 최대 2.5nm 해상도의 이미지를 제작할 수 있으며, 나노 입자 (nanoparticle) 및 기타 마이크로 기능 (micro-features) 과 같은 작은 개체의 매우 상세한 이미징을 제공합니다. 이 세부 수준 (level of detailing) 은 이미징 프로세스의 일부로 사용되는 고유 한 X 선 투영 시스템을 통합함으로써 달성됩니다. 이 시스템을 사용하면 SEM 이 이미징되는 객체의 내부 (internal) 및 외부 (external) 기능을 모두 캡처할 수 있습니다. 또한 X 선 투영, 이미징 및 분석의 조합을 통해 KLA 8100XP-R은 기존 SEM 시스템과 비교할 때 더 큰 정확도, 깊이 및 세부 사항을 얻을 수 있습니다. KLA/TENCOR 8100XP-R은 또한 광범위한 분석 기능을 제공합니다. 고진공 (high vacuum) 및 환경 (environmental) 작업에서 이미지를 캡처하여 온도, 습도 등과 같은 다양한 환경 요소에 노출 된 표본을 분석 할 수 있습니다. 이는 TENCOR 8100XPR이 환경에 관계없이 표본을 측정 할 수 있음을 의미합니다. 또한, 8100XP-R은 고급 원소 및 화학 조성 매핑 기능과 하위 나노 미터 높이 해상도 이미징을위한 고급 나노 그래피 기능을 제공합니다. 마지막으로 8100XPR에는 강력한 소프트웨어 제품군이 장착되어 있습니다. 여기에는 다용도 사용자 인터페이스 (user interface), 강력한 분석 도구 (analysis tools), 현미경을 더욱 효율적으로 사용하는 다양한 자동 옵션이 포함됩니다. 또한 EMC 소프트웨어 제품군을 사용하면 강력한 기술 지원 옵션과 중요한 데이터 아카이빙 기능을 액세스할 수 있습니다. 전반적으로 KLA/TENCOR 8100XPR은 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 탁월한 해상도와 정확도를 제공합니다. 리서치 (Research), 개발 (Development), 제조 (Manufacturing) 애플리케이션에는 매우 정밀하게 고수준 이미지를 캡처하고 분석할 수 있어 매우 유용한 도구입니다.