판매용 중고 KLA / TENCOR 8100 #9215494

KLA/TENCOR 8100 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 높은 배율로 다양한 표본을 검사하는 데 사용되는 고급 이미징 도구입니다. 공칭 가속 전압 1.2 ~ 30 kV 및 해상도 1.3 nm로 KLA 8100 SEM을 사용하면 샘플을 원자 수준으로 분석 할 수 있습니다. TENCOR 8100 SEM에는 다양한 기능과 기능이 장착되어 있습니다. 내장형 디지털 이미징 시스템 (Integrated Digital Imaging System) 은 매우 넓은 시야에서 매우 높은 해상도의 이미지를 캡처합니다. 단계적 유센트리 (steped eucentric) 단계, 자동화된 단계 이동 기능 등 다양한 현미경 요구를 수용할 수있는 샘플 스테이지가 제공됩니다. Everhart-Thornley SE 검출기 1 개와 BSE/Bremsstrahlung 검출기 1 개를 포함한 이중 검출기는 샘플의 표면 형태에 대한 자세한 분석을 가능하게합니다. 8100 SEM은 또한 자동 운영 프로그래밍, 자동 자동 자동 초점, 자동 밝은/어두운 필드 빔패스 스위칭을 포함한 다양한 자동화 기능을 제공합니다. 자동 이미징 루틴 (Automated Imaging Routine) 을 통해 초점과 밝기 조정이 자동화되면서 이미지 캡처를 빠르게 수행할 수 있으므로 수동 가변 입력이 필요 없습니다. KLA/TENCOR 8100 SEM은 특정 현미경 응용 프로그램을 위해 설계된 다양한 액세서리, 첨부 파일 및 검출기와 호환됩니다. 사용 가능한 액세서리로는 Environmental Chambers, EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) Module 및 Liquid Argon Cryo Chambers가 있습니다. 이러한 액세서리 및 검출기와 함께 사용될 때, KLA 8100 SEM은 질적, 정량적으로 광범위한 분야에 연구 통찰력 및 데이터를 제공 할 수 있습니다. TENCOR 8100 SEM은 사용자에게 친숙한 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface), 다용도 샘플 스테이지 (Sample Stage), 다양한 자동 기능을 통해 다양한 표본 자료의 상세한 고해상도 이미지를 캡처하는 데 이상적인 도구입니다. 8100 SEM은 고해상도 이미징, 재료 분석, 서브미크론 형태가 필요한 연구 및 산업 설정을위한 필수 도구입니다.