판매용 중고 KLA / TENCOR 8100 #9181745

KLA / TENCOR 8100
ID: 9181745
CD Scanning electron microscope (SEM).
KLA/TENCOR 8100은 다양한 재료를 이미징, 분석 및 검사하기 위해 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 다양한 뷰를 제공하는 다양한 기능을 제공합니다 (영문). 전자 빔과 이미지 컨트롤의 독특한 조합으로 KLA 8100은 강력하고 유연합니다. 정밀 주사 전자 총 (precision scanning electron gun) 이 특징으로 샘플의 고해상도 분석을 위해 최적의 에너지 범위를 제공합니다. 전자 빔은 가변 줌 (zoom) 및 자동 래스터 스캐닝 (raster scanning) 으로 고속 작동하여 최적의 명암과 해상도를 달성합니다. 안전하고 정확한 표본 처리를 위한 샘플 스테이지가 있으며, 수동 (manual) 및 자동 (automated) 접근 방식을 모두 사용할 수 있습니다. TENCOR 8100은 물질의 원소 분석을 제공하는 에너지 분산 분광법 (EDS) 을 특징으로합니다. 원소 매핑 (elemental mapping) 을 지원하여 현재 재료의 전체 그림과 구성과 분포를 식별하는 데이터 (data) 를 제공합니다. 또한 사용자가 강렬한 지점과 약한 산란 구성 요소의 차이를 격리 할 수 있습니다. BSE (Backscattered Electron Voxel Detector) 는 사용자가 샘플의 지형 및 화학 구성 변화를 감지 할 수 있도록 도와줍니다. 화학, 오리엔테이션, 프로파일과 같은 속성의 정확한 시각적 표현을 위해 정량적 분석을 용이하게합니다. 이렇게 하면 사용자가 샘플의 품질 (quality) 과 일관성 (consistency) 과 처리 방법을 결정할 수 있습니다. 또한 8100은 스테이지 기울기 (stage tilt) 및 샘플 탐색 기능을 제공하여 사용자가 샘플에 대해 다른 관심 지점에 빠르게 액세스 할 수 있습니다. 비 전도성 및 깨지기 쉬운 표본을위한 저진공 (LV) 모델도 특징입니다. LV 모델은 사용자가 표본 충전을 피하고 샘플 분해를 최소화하도록 도와줍니다. 다른 기능 외에도, KLA/TENCOR 8100에는 데이터 조작, 수치 측정, 수동 주석 툴과 함께 이미지 분석 및 포스트 프로세싱 기능이 제공됩니다. 강력한 사용자 인터페이스와 인체 공학적 설계는 사용자가 쉽고 직관적인 탐색 기능을 제공합니다. KLA 8100은 다양한 재료에 대한 연구를 위해 설계된 고급 분석 도구입니다. 다양한 스캐닝 기능과 분석 도구 (analysis tools) 를 통해 사용자는 샘플을 검사, 분석, 특성화할 수 있는 강력하고 안정적인 도구를 사용할 수 있습니다.
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