판매용 중고 KLA / TENCOR 8100 #293648703

KLA/TENCOR 8100 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 광범위한 이미징, 분석 및 도량형 작업을 수행하기 위한 강력한 도구입니다. 이 SEM은 1 나노미터 (1 나노미터) 까지 물체의 고해상도 이미지를 생성할 수 있습니다. 직관적 인 연산자 인터페이스 (operator interface) 를 통해 연산자가 신속하게 실험을 설정하고 조정 할 수 있습니다. 또한 KLA 8100 SEM에는 최대 100,000 배의 배율을 달성 할 수있는 고급 이미징 시스템이 있습니다. 이 높은 배율은 세밀한 오브젝트를 관찰하는 데 필수적입니다. TENCOR 8100 SEM은 전자 빔을 사용하여 샘플의 표면을 봅니다. 고에너지 전자 빔 (electron beam) 은 샘플에 초점을 맞추고 표면의 원자와 상호 작용합니다. 이렇게 하면 대비 효과가 생성되어 샘플 이미지가 생성됩니다. 가장 좋은 "이미지 '를 얻기 위하여 전자" 빔' 의 강도 를 조절 하고 조정 할 수 있다. 또한 8100 SEM에는 자동 샘플 정렬 시스템 (automated sample alignment system) 이 있어 샘플이 이미지 캡처용으로 제대로 배치되어 있습니다. 이 SEM 은 고해상도 이미지를 생성할 수 있는 것 외에도 분석 (analysis) 및 도량형 (metrology) 작업을 수행할 수 있습니다. KLA/TENCOR 8100 SEM에는 샘플의 화학적 구성 분석을 제공하는 통합 에너지 분산 x- 레이 장치가 장착되어 있습니다. KLA 8100에는 다양한 도량형 작업을 수행하는 데 필요한 조리개, 웨이퍼, 필름 (film) 과 같은 다른 통합 프로브도 포함되어 있습니다. TENCOR 8100 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 광범위한 물체를 조사하는 데 이상적인 강력한 도구입니다. 직관적인 인터페이스, 고해상도 이미지 생성 능력, 분석 및 도량형 작업을위한 통합 시스템 (Integrated System for Analysis and Metrology Task) 은 실험실과 연구 시설 모두에게 귀중한 도구입니다.