판매용 중고 JEOL JXA 8900R #293756003
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JEOL JXA 8900R은 다양한 과학 응용 분야에서 탁월한 성능과 다용성으로 유명한 최첨단 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고해상도 도구는 고급 이미징 기술 및 분석 기능을 통합하여 재료 과학, 지질학, 생물학, 나노 기술 등 다양한 분야의 연구자와 과학자들에게 없어서는 안될 도구입니다. JXA 8900R의 중심에는 혁신적인 전자 광학 시스템 (electron optics system) 이 있는데, 이를 통해 현미경은 뛰어난 이미징 해상도와 선명도를 얻을 수 있습니다. 이 기구 에는 정교 한 전자 총 이 장착 되어 있는데, 이것 은 표본 표면 을 비추기 위한 "전자 '의 집중 광선 을 발생 시킨다. 이 고에너지 전자 빔 (electron beam) 은 샘플과 상호 작용하여 검출기에 의해 수집 된 신호를 생성하여 표본의 지형, 형태 및 조성의 자세한 이미지를 형성합니다. JEOL JXA 8900R은 이미징 및 분석 중 샘플의 정확한 위치 지정 및 조작을 허용하는 다재다능한 스테이지 시스템을 갖추고 있습니다. 이 기구 는 다양 한 "샘플 '크기 와 모양 을 수용 할 수 있어서, 다양 한 재료 와 구조 를 연구 하는 데 적합 하다. 스테이지 시스템에는 자동 샘플 탐색 및 매핑을 위한 여러 개의 동력 축 (Motorized Axes) 이 포함되어 있으며, 데이터 획득의 효율성과 정확성을 향상시킵니다. JXA 8900R (JXA 8900R) 의 핵심 강점 중 하나는 첨단 분석 기능으로, 연구자들은 마이크로 스케일 (micro- 및 nano-scales) 에서 샘플의 화학 성분에 대한 귀중한 정보를 얻을 수 있습니다. 이 기기에는 원소 분석을위한 다수의 에너지 분산 X- 선 분광계 (EDS) 가 장착되어 있으며, 이를 통해 사용자는 샘플에 존재하는 화학 원소를 확인하고 정량화 할 수 있습니다. EDS 검출기는 고감도, 공간 해상도를 제공하여 표본 내에서 원소 분포를 정확하게 현지화 할 수 있습니다. JEOL JXA 8900R은 EDS 분석 외에도 WDS (wavelength-distersive X-ray spectrometry), EBSD (electron backscatter diffraction) 및 cathodoluminescence imaging을 포함한 다양한 분석 기술을 제공합니다. 이러한 보완 기법은 재료의 결정 구조, 위상 구성, 광학적 특성 (optical properties) 에 대한 귀중한 통찰력을 제공하여 샘플에서 얻을 수있는 정보의 깊이와 폭을 향상시킵니다. JXA 8900R 은 직관적인 소프트웨어 인터페이스와 분석 툴을 갖추고 있어 데이터 시각화, 처리, 해석이 용이합니다. 사용자는 획득한 이미지와 스펙트럼을 손쉽게 탐색하고, 정량적 분석을 수행하고, 출판과 프레젠테이션을 위한 종합적인 보고서를 생성할 수 있습니다. 이 장비는 2 차 전자 이미징, 백스캐터링 전자 이미징, 저진공 이미징 등 다양한 이미징 모드를 지원하므로 이미징 전략을 특정 샘플 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다. 전반적으로, JEOL JXA 8900R은 뛰어난 영상 성능과 고급 분석 기능을 결합한 최첨단 스캐닝 전자 현미경을 나타내며, 과학 연구 및 발견을위한 강력한 도구입니다. 다용도, 신뢰성, 사용자 친화적 인 인터페이스로 인해 마이크로, 나노 스케일 (micro- and nano-scale) 에서 광범위한 재료와 현상을 연구하는 데 없어서는 안될 도구입니다.
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