판매용 중고 JEOL JXA 840 #9173746

JEOL JXA 840은 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 고해상도로 재료를 시각화하는 데 중요한 도구입니다. 이 기구 는 몇 "나노미터 '까지 분해 된 구조 와 특징 을 관찰 할 수 있다. 이 로 인해 금속, 도자기, 반도체, 생물학적 표본 등 여러 가지 물질 을 상세 히 연구 할 수 있다. JXA 840 은 전자 빔 (beam) 을 사용하여 샘플을 스캔하여 상세한 이미지를 생성합니다. 이 기기는 고속 스캐닝을 지원하는 완전 자동화된 고정밀 x-y 스캔 드라이브 (x-y scan drive) 를 갖추고 있어 높은 처리량을 필요로 하는 어플리케이션에 적합합니다. 이 기기는 0.05 ~ 30kV 범위의 가변 가속 전압을 제공하여 광범위한 샘플 유형에 대한 이미징 및 원소 분석을 허용합니다. 이 도구는 기존 이미징 외에도 kV 이미징 (low-kV imaging) 에서 cryo 조건 (cryo condition) 에 이르기까지 다양한 특수 이미징 기능을 제공합니다. 이 기구에는 통합 된 광학 현미경이 포함되어 있어 샘플의 시각적 (visual) 및 전자적 (electronic) 관찰이 가능합니다. 이 기능은 더 큰 확대/축소 범위가 필요한 샘플을 검사하는 데 특히 유용합니다. JEOL JXA 840에는 샘플 조성을 분석하는 데 사용할 수있는 EDS (Energy Distersive Spectrometry) 옵션이 포함되어 있습니다. 이 기기는 또한 전자기 간섭으로부터 보호되는 잘 차폐 된, 저진동, 고감도 EDS 검출기를 특징으로하며, 이를 통해 정확하고 신뢰할 수있는 원소 분석 결과를 얻을 수 있습니다. 이 기기의 온도 범위는 10C ~ 600C 인 큰 샘플 챔버 (sample chamber) 가 있으므로 열 분석과 같은 광범위한 온도 의존 응용에 적합합니다. 또한, 기기에는 다양한 증착 금속이있는 샘플 메탈라이저 (sample metalizer) 가 장착되어 있으며, 이는 다양한 샘플 표면의 지형을 복제 및 보존하는 데 유용합니다. 전반적으로, JXA 840은 매우 다양한 기능의 SEM (SEM) 으로, 매우 정밀하고 해상도가 뛰어나며 광범위한 연구 애플리케이션에 적합합니다. 통합된 이미징 (Imaging) 및 분석 기능을 통해 나노스케일 (Nanoscale) 에서 소재를 특성화하고, 분석하고, 이미징하는 데 유용한 도구입니다.