판매용 중고 JEOL JWS 8000Z #293621075

JEOL JWS 8000Z는 물질 표면 및 서브 표면 구조의 신뢰할 수 있고, 고성능 이미징 및 분석을 위해 설계된 고정밀 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이중 빔 SEM/Focused Ion Beam (FIB) 기기로 동시 이미징 및 나노 구조 제작이 가능합니다. 8000Z에는 초고해상도 냉장 방출 (CFEM) 총이 장착되어 있으며, 최대 1.6kV (가속 전류 소음) 및 저가속 (저가속 소음) 의 고품질 텅스텐 빔을 제공하며, 뛰어난 해상도, 심도 필드 및 저전하 작동을 달성합니다. 8000Z에는 고대비 백스캐터 탐지기 (backscatter detector) 와 렌즈 내 2 차 전자 탐지기 및 전통적인 백스캐터 탐지기 (backscatter detector) 가 장착되어 있어 매우 높은 감도로 정확한 구성과 구조 정보를 제공합니다. 또한 낮은 가속 전압이 필요한 무감각 재료를 분석하기위한 가변 압력 (VP) 챔버가 있습니다. 또한 8000Z에는 샘플 자동화 기능이 있으며, 다중 단계 모터 제어 단계를 사용하여 자동 샘플 준비, 이미징 및 분석을 사용할 수 있습니다. 8000Z는 또한 온보드 Everhart-Thornley Segmented Detector를 가지고 있으며, 뛰어난 해상도로 에너지 분산 X-ray (EDX) 분석을 수행 할 수 있습니다. 자동 WDS 요소 매핑 (Elemental Mapping) 기능을 사용하면 샘플 구성의 미세 분석 측정도 가능합니다. 8000Z는 터치스크린 모니터와 고급 소프트웨어를 갖춘 사용자 친화적 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 를 통해 강력하고 간편한 운영 및 GIS 기반 원격 제어 기능을 제공합니다. 모든 설정은 메모리 (memory) 에 저장되어 동일한 조건에서 반복 가능한 결과와 분석을 수행할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JWS-8000Z는 초고해상도 냉장 방출 총, 다목적 검출기, 샘플 자동화 기능 및 온보드 Everhart-Thornley Segmented Detector를 갖춘 고급 고해상도 정전기 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 탁월한 화질, 정밀 분석 기능을 제공하여 다양한 업계의 이미징 (imaging) 및 분석 (analysis) 애플리케이션을 위한 안정적인 성능을 제공합니다.