판매용 중고 JEOL JWS 7555 #9390726

JEOL JWS 7555
ID: 9390726
Scanning Electron Microscopes (SEM).
JEOL JWS 7555는 다양한 산업 및 연구 시설에서 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 강력한 현미경은 나노 미터 해상도의 기능을 이미징 및 분석하는 데 이상적입니다. 광범위한 이미징 기능을 통해 JWS 7555 (JWS 7555) 는 전례 없는 세부 사항으로 세포, 금속, 전자 제품, 반도체 재료와 같은 작은 물체나 구조를 관찰하는 데 사용될 수 있습니다. JEOL JWS 7555 (JOL JWS 7555) 는 다양한 이미징 모드를 제공하는 멀티모드 (Multi-Mode) 장비로, 이미지 캡처와 관련하여 높은 범용성과 정밀도를 제공합니다. 이 현미경에는 렌즈 내 2 차 전자 탐지기 (in-lens secondary electron detector) 와 다른 많은 모델보다 정확한 이미징을위한 냉장 방출 총 (cold field emission gun) 이 있습니다. 또한 후면 흩어진 전자 검출기를 사용하여 2 차 전자 영상 장비를 제공하여 이미지의 대비를 더 많이 제공합니다. 현미경은 자동 진공 획득 시스템 (automated vacuum acquisition system) 과 내장 가스 냉각 챔버 (gas-cooled chamber) 를 가지고 있으며, 영상 처리 중 진공 무결성을 향상시키고 표본에서 응축을 방지합니다. JWS 7555 의 고해상도 이미징 기능은 여러 최첨단 이미징 기술의 통합으로 더욱 향상되었습니다. 고해상도 구성 분석 기능은 microprobe 에너지 분산 X- 선 분석 장치에 의해 제공됩니다. 이 기계는 나노 미터 공간 해상도에서 샘플의 원소 조성을 분석 할 수있다. 온보드 디지털 이미지 처리 도구 (on-board digital image processing tool) 는 캡처된 이미지의 노이즈를 정리하여 보다 정확한 이미징 및 분석 결과를 제공하는 데 사용됩니다. JEOL JWS 7555 는 다양한 과학 애플리케이션에 적합한 포괄적인 사용자 친화적 자산입니다. 리서치 (Research) 및 업계 응용프로그램 (Application) 을 위한 신뢰할 수 있는 솔루션으로, 다양한 용도로 사용할 수 있는 안정적인 이미지와 분석 데이터를 제공합니다.
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