판매용 중고 JEOL JWS 7555 #293791443

JEOL JWS 7555 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 연구 및 산업 응용 분야에서 높은 수준의 성능을 달성하도록 설계된 고급 다용도 도구입니다. 7555에는 에너지 분산 X- 선 (EDX) 미세 분석 장비가 장착되어 있어 표본의 원소 조성을 서브 미크론 해상도까지 식별 및 분석 할 수 있습니다. 또한 SEM (Variable Pressure and Environmental Operation Mode) 을 통해 사용자는 다양한 환경에서 생물학적, 지질 및 기타 물질을 관찰하고 분석 할 수 있습니다. 7555의 고해상도 이미징 기능은 인상적이며, 이 장치는 15 keV의 가속 전압에서 0.5 nm 미만의 해상도를 달성합니다. 또한 여러 층의 표본을 관찰, 분석 할 수 있도록 넓은 시야와 넓은 깊이 (field of field) 를 제공합니다. 최대 배율은 150,000 배이며 안정적인 이미징을위한 드리프트 보정 시스템을 제공합니다. 또한 디지털 카메라, 전자 빔 현미경, 저진공실 등 여러 제어 장치를 지원합니다. 강력한 EDX 장치를 통해 7555는 직경이 50 nm 인 샘플에서 X 선을 흥분시키고 감지 할 수 있습니다. 에너지 필터 머신 (energy filter machine) 을 탑재하여 엑스레이 (X-ray) 의 품질을 향상시켰고, 다이내믹 레인지 (dynamic range) 가 넓은 검출기를 탑재하여 다양한 요소를 분석할 수 있다. 질적 (qualitative) 및 정량적 (quantitative) 분석 기능을 모두 갖추고 있어 샘플의 요소를 식별할 수 있으며, 상기 요소의 상대적 농도를 표시할 수 있습니다. 7555는 또한 직관적인 컨트롤과 풍부한 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 갖춘 사용자 친화적입니다. 사용자는 이미지를 저장하고, 리콜하고, 프로세스를 자동화하고, 화면 작업을 수행할 수 있습니다. 또한 내장 인터 록 (interlock) 및 실시간 상태 정보와 같은 안전 기능이 잘 통합되어 있습니다. JWS 7555 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 산업 및 연구 응용 분야에 이상적인 선택입니다.