판매용 중고 JEOL JWS 7515 #9249356

JEOL JWS 7515는 큰 샘플의 정밀 영상을 가능하게하는 고성능 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고급 이미징 (advanced imaging) 기능과 매우 정확한 분석 기능을 갖춘 이 제품은 다양한 이미징 어플리케이션을 위한 이상적인 도구입니다. JEOL JWS-7515는 새로운 15 나노 미터 초저소음 성능 검출기 장비를 갖추고 있으며, 낮은 소음으로 안정적인 이미징 결과를 제공합니다. 따라서 SEM 이미지의 변색 현상을 줄일 수 있으며, 이미지 캡처 속도가 빨라집니다. 또한 큰 샘플의 최적의 이미징을위한 5 축 샘플 스테이지 (5 축 샘플 스테이지) 가 있으며, 가능한 가장 높은 디테일을 위해 이미징 프로세스 동안 샘플을 기울이고 회전시키는 기능이 있습니다. JWS 7515에는 정밀 스캔 결과를 위한 자동 감지 및 초점 기능도 포함되어 있습니다. 사용자 친화적 인 SEM (Automated Sample Environment Control) 시스템을 사용하면 정확하고 재현 가능한 방법을 쉽고 빠르게 개발할 수 있습니다. 또한 샘플 안정성 및 이미징 감도 향상을 위해 개선 된 광 장치 (optical unit) 를 갖추고 있습니다. 또한 JWS-7515는 고급 데이터 분석 기능도 제공합니다. 사용자는 전용 응용 프로그램 소프트웨어를 사용하여 입수 한 데이터에서 원소 구성, 이미지 형태, 곡물 크기를 분석 할 수 있습니다. 또한 입자 분석 기계 (particle analysis machine) 를 사용하여 나노 미터 스케일까지 개별 입자를 정확하게 분석 할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JWS 7515는 이미징 요구에 대한 다양하고 신뢰할 수있는 솔루션을 제공합니다. 첨단 검출기 (Advanced Detector) 도구, 자동화된 성능 (Accuracy), 재현성 (Reprodibility), 강력한 데이터 분석 기능을 통해 광범위한 프로세스에 대해 높은 수준의 이미징과 정확한 분석을 가능하게 하는 이상적인 도구입니다.