판매용 중고 JEOL JWS 7515 #169153

JEOL JWS 7515
ID: 169153
Scanning electron microscopes.
JEOL JWS 7515는 최첨단 기술을 활용하여 고품질 및 정밀 이미징 해상도를 제공하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 뛰어난 유연성과 다양한 분석 데이터 (Analysical Data) 를 제공하는 독보적인 장비 설계가 특징입니다. 이 악기는 대규모 (large-scale) 및 소규모 (small-scale) 어플리케이션에서 다양한 뛰어난 이미지를 만들 수 있습니다. 사용자는 높은 수준의 분석 성능 및 정확성 (특히, 매우 미세한 해상도의 이미징이 필요한 어플리케이션) 을 얻을 수 있습니다. JEOL JWS-7515는 다양한 응용 프로그램에 적합한 선택입니다. 가장 주목할만한 기능은 고해상도 이미징을위한 다양한 옵션을 제공하는 고급 전자 빔 (electron beam) 과 광학 시스템 (optical system) 입니다. 이 장치에는 뛰어난 이미징 해상도를 위한 자동 디지털 이미지 캡처 장치 (Automated Digital Image Capture Unit) 가 장착되어 있습니다. 저전압 건조립체 (gun assembly) 는 최대 40kV까지 생산할 수 있으며, 고강도 조명기 (illuminator) 를 통해 매우 미세한 해상도로 에너지 분산 X-ray 이미지를 얻을 수 있습니다. JWS 7515에는 다양한 분석 기능이 있으며, 최대 10,000배까지 확장할 수 있습니다. 이 기기에는 자동 샘플 스테이지 (sample stage) 가 장착되어 있어 데이터를 신속하게 검색하고 저장할 수 있습니다. 또한 정확한 깊이 제어 재료 응용 프로그램을 가능하게하는 고정밀 깊이 제어 머신이 특징입니다. 또한이 장비는 샘플의 스테레오 또는 3 차원 이미징을 생성 할 수 있습니다. JWS-7515는 다양한 이미징 요구에 적합한 선택입니다. 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 를 통해 사용자는 기기의 다양한 기능에 액세스할 수 있으며, 이미지 획득 프로세스를 모니터링할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 마이크로스코프 (microscope) 의 안정적인 작동과 데이터 아카이빙을 위해 설계되었습니다. 강력한 기능과 정확한 이미징 성능을 갖춘 JEOL JWS 7515는 모든 실험실에 이상적인 스캐닝 전자 현미경입니다. 또한 고급 기술을 통해 사용자는 원하는 결과를 쉽고 정확하게 달성할 수 있습니다. 탁월한 분석 성능과 정확성으로 인해 모든 이미징 요구 사항에 적합한 사용자 친화적 선택이 가능합니다.
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