판매용 중고 JEOL JWS 7505 #9131754

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ID: 9131754
SEM Microscope.
JEOL JWS 7505 스캐닝 전자 현미경은 오늘날 시장에서 가장 발전된 모델 중 하나입니다. 이 고성능 기기 (HPO) 는 안정적이고 반복 가능한 성능을 제공하도록 설계되어 모든 실험실 환경에 적합한 제품입니다. JEOL JWS-7505는 최대 가속 전압 15 kV, 최대 200 nm 해상도의 향상된 고해상도, 전계 방출 총 전자 총을 갖춘 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 또한 고급 샘플 전송 (sample transfer) 기술을 통해 여러 위치를 통해 샘플을 자동으로 전송하여 보다 빠르고 부드러운 이미지 캡처 및 분석을 수행할 수 있습니다. JWS 7505에는 전자총에서 특허받은 "볼츠맨-실딩 (Boltzman-Shielding)" 과 같은 이미징 성능을 최적화하여 백그라운드 노이즈 (background noise) 및 억제된 진동을 줄여 더 높은 수준의 이미지 캡처 정확도를 제공합니다. 또한 JWS-7505는 산란 소음의 양이 감소하여 대비 해상도가 높은 STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) 이미지를 캡처 할 수있는 선택적 CIS (Color Image System) 를 갖추고 있습니다. 이 고급 모델에는 대형 샘플 검사를 위한 전동식 스테이지 (motorized stage), 펌핑 시간을 줄이고 표본 포지셔닝을 용이하게하는 높이 확장 챔버 (height-extended chamber), 저소음 작동을위한 통합 냉각 시스템 (integrated cooling system) 이 장착되어 있습니다. JEOL JWS 7505에는 또한 작업 스케줄러 (Job Scheduler) 와 같은 다양한 고급 소프트웨어 기능이 기본으로 제공되며, 이를 통해 사용자는 JEOL JWS-7505를 프로그래밍하여 손쉽게 유지 관리할 수 있습니다. 고급 기능과 사용자 친화적 인 디자인 덕분에 JWS 7505는 생의학, 재료 과학, 장치 및 표면 분석, 제작 분석, 나노 기술 연구 등의 분야에 적합합니다. 이 고성능 전자 현미경은 효율적이고 안정적인 성능을 제공하며, 안정적이고 고성능 SEM (SEM) 을 찾는 모든 연구자에게 적합한 선택입니다.
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