판매용 중고 JEOL JWS 7505 #293594310

JEOL JWS 7505 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다른 SEM에 비해 3.2 나노 미터 해상도와 높은 수준의 성능을 가지고 있습니다. 확대 된 챔버, 빔 스플리터 구조 및 열 내 에너지 필터가있는 고급 FEG (Field Emission Gun) 가 특징입니다. 이를 통해 사용자는 확대율 (higher magnification) 과 심도 (depth of field) 를 높일 수 있으므로 이미지의 세부 수준이 높아집니다. JEOL JWS-7505는 또한 STM (Scanning Tunneling Microscopy) 과 같은 광범위한 관찰 모드와 기능을 제공하며, 운영 능력이 향상된 표본의 내부 조작 및 분석도 제공합니다. 장착 된 검출기 시스템은 챔버 환경을 최적화하면서 더 빠른 이미지 해상도, 향상된 이미지 충실도 및 정확도, 개선 된 3D 이미징, in-situ 샘플 조작을 제공하도록 구성되었습니다. JWS 7505는 또한 빠른 패턴 검색 및 스티칭 기능을 제공하여, 더 빠른 이미지 획득과 더 높은 해상도의 녹음을 가능하게 합니다. JWS-7505의 이미징 모드에는 2 차 전자 이미징, 역 산란 전자 이미징 및 카토 돌 발광 이미징이 포함됩니다. 또한 인시 투 분석을위한 신틸레이터 검출기, 에너지 분산 분광기, 전자 역 산란 회절 (EBSD) 검출기, 각도 분해 에너지 필터 등 이미징을위한 다양한 검출기가 장착되어 있습니다. 구성 분석. 또한 JEOL JWS 7505에는 자동 관찰 및 샘플 회전이 포함 된 표본 단계가 있습니다. 또한 고속 변속기를 사용한 디지털 이미지 피드 (digital image feed) 를 통해 실시간 관찰 및 분석이 가능합니다. JEOL JWS-7505 (JOL JWS-7505) 는 청소실 환경에서 작동하도록 최적으로 설계되었습니다. 즉, 먼지나 다른 오염 물질이없는 조건에서 사용할 수 있습니다. JWS 7505는 사용자에게 전자 현미경 스캔을 위한 안정적이고 사용하기 쉬운 플랫폼을 제공합니다. 고해상도, 고속 이미징, 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 다양한 연구 애플리케이션에 이상적인 툴이 될 수 있습니다. 저비용 엔트리 (entry) 옵션은 우수한 성능과 연계되어 전자 현미경 주사 (Scanning Electron Microscopy) 에 적합한 옵션입니다.