판매용 중고 JEOL JWS 7500E #9223533

JEOL JWS 7500E는 연구원들이 원자 및 나노 척도로 샘플을 관찰하고 분석하도록 설계된 정교한 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 현미경은 주사 전자 빔을 사용하여 샘플을 비추고 확대합니다. 연구자들은 디지털 이미징 (digital imaging) 과 상호 작용 (interaction) 기술을 조합하여 현미경으로 상세한 이미지와 3D 표면 렌더링을 얻을 수 있습니다. JWS 7500E는 고출력 40kV 전계 방출 전자 총 (FEG) 을 사용하여 전자의 빔을 생성하고, 전자기 렌즈를 통해 가속되어 평면에 집중된다. 그런 다음, 이 가속 된 전자 빔을 샘플에 걸쳐 스캔하여 SEI (secondary electron image) 라는 스캐닝 모드를 사용하여 이미지를 형성합니다. 또한 JEOL JWS 7500E 는 반사된 전자 또는 2 차 전자를 감지할 수 있으며, 이는 더 큰 깊이 정보로 더 높은 해상도의 이미지를 생성할 수 있습니다. 현미경은 또한 BSE (backscattered electron) 이미징을 활용 할 수있는 능력을 가지고 있으며, 이를 통해 연구자들은 더 높은 명암을 가진 샘플을 관찰 할 수 있습니다. JWS 7500E에는 이미지 생성 외에도 EDS (energy-dispersive spectroscopy) 분석기가 장착되어 있어 샘플의 원소 구성을 감지합니다. 이를 통해 연구원들에게 샘플 조성에 대한 귀중한 정보를 제공 할 수 있으며, 샘플 (sample) 에 존재하는 요소와 화합물을 보다 정확하게 식별 할 수 있습니다. JEOL JWS 7500E는 극저온 준비 시스템과도 호환되며, 샘플을 -200 ° C의 낮은 온도에서 보고 분석 할 수 있습니다. 이를 통해 연구자들은 실제 (true) 상태의 샘플을 관찰하고, 환경의 변화에 대한 샘플 응답으로 인한 변경 사항을 없앨 수 있습니다. 전반적으로, JWS 7500E는 나노 영상 및 원소 분석에 잘 맞는 매우 강력한 스캐닝 전자 현미경입니다. 광범위한 기능과 극저온 시스템 (cryogenic system) 과의 호환성을 통해 연구자들은 원자 수준에서 표본의 상세하고 정확한 이미지를 얻을 수 있습니다.