판매용 중고 JEOL JWS 7500E #293761986

JEOL JWS 7500E는 연구 및 산업 응용을 위해 특별히 설계된 고성능 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 이미징 (최대 18,000x) 과 저해상도 이미징 (low-kV) 기능을 포함한 고급 이미징 성능을 제공합니다. JWS 7500E에는 Schottky Emitter, Off-Axis Triplet, Cold Cathode Field Emitter 및 Broad-Beam Condenser를 포함한 다양한 전자 광학이 장착되어 있으며 모두 전자 빔의 정확한 조작이 가능합니다. 이를 통해 사용자는 유기 물질, 금속, 도자기 등 다양한 표본 유형에 대해 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 및 뛰어난 대비를 달성 할 수 있습니다. 강력한 이미징 및 분석 기능 외에도 JEOL JWS 7500E에는 자동 샘플 스테이지가 장착되어 있습니다. "스마트 스테이지 (Smart Stage)" 기술은 표본 스테이지를 자동으로 조정하고 수정하여 정확하고 일관된 이미징을 보장합니다. JEOL은 또한 현장 분석, 광학 도량형, 표면 영상 등 다양한 자동 기능을 제공합니다. JWS 7500E는 또한 디지털 이미징, 에너지 분산 x- 선 분광법 (EDS), 파장 분산 x- 선 분광법 (WDS), X- 선 형광 (XRF) 및 가톨릭 발광 (CL) 분석을 포함한 여러 가지 고급 분석 기능을 제공합니다. EDS 및 CL 시스템은 원소 및 구성 분석을 제공하는 반면, WDS 및 XRF는 추가 표면 분석을 얻는 데 사용될 수 있습니다. 이 모든 기능은 JEOL을 재료 분석에 이상적인 장치로 만듭니다. JEOL JWS 7500E에는 다양한 제어 및 사용자 지향 기능도 제공됩니다. 실시간 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 통해 운영자에게 매개변수, 배율, 시편의 각도를 조정할 수 있는 기능을 제공합니다. 이 직관적인 인터페이스를 통해 JEOL 은 쉽게 작동할 수 있으며, 고급 수준의 제어가 가능합니다. JWS 7500E (JWS 7500E) 는 연구 및 산업 조직의 요구를 충족시키기 위해 설계된 강력한 현미경입니다. 고급 이미징 (Advanced Imaging) 및 분석 (Analytical) 기능을 통해 표본의 자세한 관찰과 특성화가 가능하므로 재료 분석 응용 프로그램에 이상적인 선택입니다.