판매용 중고 JEOL JWS 7500E #293616492

JEOL JWS 7500E
ID: 293616492
Wafer inspection system.
JEOL JWS 7500E는 고성능 JEOL JWS 시리즈 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 의 차세대 버전입니다. JWS 7500E는 고전자 광학 성능과 연구와 산업용 어플리케이션 모두를 위한 첨단 (최첨단) 기능을 갖추고 있습니다. 이 SEM은 평면 정전기 오브젝티브 렌즈를 사용하여 뛰어난 이미지 품질과 고해상도를 제공합니다. 고성능 에너지 필터 시스템을 통해 정밀한 원소 분석을 할 수 있습니다. JEOL JWS 7500E는 고급 고전압 전자원을 장착하여 다양한 가속 전압에 걸쳐 뛰어난 고전압 안정성, 저진공 고해상도 이미징, 고에너지 선택적 이미징 및 분광법을 제공합니다. JWS 7500E (Motorized and Manual Operation) 를 모두 지원하는 다중 컨트롤러 지원 기능이 있는 자동 샘플 스테이지 (Stereotaxic Stage) 를 통해 빠르고 정확하게 예제 배치를 수행할 수 있습니다. 또한 이 SEM 은 매핑 (Mapping) 과 특성 (Characterization) 을 비롯한 데이터 수집 자동화를 위한 높은 처리량 소프트웨어 패키지를 제공합니다. 또한 SEM의 대형 다이내믹 레인지 (dynamic range) 는 견고한 샘플에서도 뛰어난 고대비 이미징을 제공합니다. JEOL JWS 7500E는 SE, BSE, WDX, EBIC, STEM, SED 및 HAADF를 포함한 다양한 모드와 해상도로 이미지를 캡처하여 SEM을 다양한 응용 프로그램에 적합합니다. JWS 7500E에는 에너지 필터 시스템과 EDX (energy-dispersive X-ray) 및 EBSD (electron backscatter diffraction) 검출기 (옵션) 가 장착되어 있습니다. JEOL JWS 7500E 의 고급 개방형 아키텍처 (Open Architecture) 설계를 통해 향후 추가 업그레이드가 가능합니다. 산업 또는 생산 애플리케이션의 경우, JWS 7500E는 고속 샘플 로딩 (옵션) 및 자동화된 결함 감지 시스템 (비파괴 샘플 검사) 을 제공합니다. 또한 SEM은 넓은 샘플의 2D 이미징 및 3D 이미징을위한 고속 스캔 변환 모드를 제공합니다. JEOL JWS 7500E는 최첨단 성능과 기능 세트를 제공하여 업계, 연구, 생산 분야를 위한 최적의 선택입니다.
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