판매용 중고 JEOL JWS 2000 #293621661

JEOL JWS 2000은 고급 이미징 및 분석을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 제품은 현장 방출 (field-emission) SEM 의 강력한 성능과 최신 기술을 결합하여 나노 (nano) 규모의 정보의 고해상도 이미지를 제공하는 이미징 툴입니다. 이를 통해 JWS 2000은 표면에서 서브 미크론 (submicron) 수준으로 재료의 특성을 특성화하는 이상적인 도구로 만듭니다. JEOL JWS 2000에는 정확한 이미징을위한 현장 방출 소스가 장착되어 있습니다. 이 소스는 저가속 전압 (low accelerating voltage) 및 저소음 (low noise) 과 함께 높은 해상도를 제공합니다. 최신 저소음 탐지기 (low-noise detector) 를 통해 고해상도가 더욱 향상되어 가장 작은 기능까지 정확하게 탐지할 수 있습니다. JWS 2000 (JWS 2000) 은 또한 큰 작동 챔버와 넓은 전압 범위를 갖추고 있으며, 사용자가 해상도를 희생하지 않고 큰 샘플을 조사 할 수 있습니다. JEOL JWS 2000은 하나의 플랫폼에서 이미징 및 분석 응용 프로그램을 모두 수행합니다. EDX (energy-dispersive X-ray) 분광법, BSE (backscattered electron) 이미징 및 CL (cathodoluminescence) 을 포함한 다양한 고급 분석 도구가 장착되어 있습니다. EDX는 원소 및 화학 조성 정보를 제공하는 반면, BSE 검출기 및 CL은 샘플의 표면 (surface) 및 서브 서피스 (sub-surface) 에서 재료 특성을 이미징할 수 있습니다. 또한 JWS 2000은 명암비, 종횡비, 선 너비 등 다양한 이미징 메트릭을 제공합니다. JEOL JWS 2000은 사용 편의성을 높이기 위해 다양한 자동 기능을 제공합니다. 정밀한 빔 배치를위한 자동 정렬 시스템 (Auto Alignment System), 여러 샘플을 신속하게 처리하기위한 자동 샘플 교환기 (Sample Changer), 정확한 이미지 획득 및 분석을 위한 자동 스티그 앤 틸트 제어 (Stig and Tilt Control) 등이 있습니다. 또한 JWS 2000은 클라이언트/서버 및 웹 인터페이스를 통한 원격 액세스를 지원합니다. 이를 통해 사용자는 세계 어디에서나 SEM을 운영 할 수 있습니다. JEOL JWS 2000은 나노 스케일 재료 및 구조의 고해상도 이미징 및 분석을 제공하기 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 현장 방출 소스 (field-emission source), 고급 탐지기 (advanced detector) 및 광대역 (wide voltage range) 은 정확한 이미징을 가능하게 하는 반면, 다양한 분석 도구, 자동화된 기능 및 원격 액세스는 사용 편의성과 최대 제어를 제공합니다. JWS 2000은 재료와 표면의 나노 스케일 특성화에 이상적인 도구입니다.