판매용 중고 JEOL JSM T330A #116691
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ID: 116691
Scanning Electron Microscope with Tracor Northern Z-Max 30 Series TN5502N EDS System
Resolution: 5nm (SEI, 30kV, WD=10nm)
Magnification:
LGS 15x (WD=48mm) -200,000x
SGZ 35x (WD=38mm)-200,000x
Accelerating voltage: 0.5-30Kv
Cooling water: 2L per minute
Power requirement: 100VAC 1Phase 50/60Hz, 2kVA
Constant Current: 20A, Starting Current: 60A
Tracor Northern Z-Max 30 Series TN-5502N EDS system specifications:
Z-Max 30 Series Model: 98-629I3/54S
Controller Model: TN-5502N Assy.:700P117748
Laboratory Resolution: 148.6
Laboratory Peak/BKGD.: 889
Bias Voltage: -400V
Heater Voltage: 10.0
Controller Power Requirement: 115VAC 12A or 230VAC 7A.
JEOL JSM T330A는 전자 빔을 사용하여 샘플의 표면을 분석하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기능은 다양한 샘플에 대해 고해상도 이미징 및 3 차원 이미징을 허용합니다. JSM T330A는 15kV 전자원에서 작동하며 최대 해상도는 0.3 나노 미터 (nanometer) 로 작은 샘플 또는 영역의 최고 해상도 이미징을 허용합니다. 또한, 모터 스테이지 센서 및 광전자 배관 (photomultiplier tube) 을 사용하여 샘플의 디지털 이미지를 획득하여 실시간 측정 및 정확한 샘플 분석을 가능하게합니다. 전동식 스테이지 센서는 특정 연산으로 프로그래밍 될 수도 있으며, 스캐닝 및 샘플 정렬의 자동 작동이 가능합니다. JEOL JSM T330A는 BSD (backscattered electron detector) 로 인해 초고화질 이미지를 만들 수 있습니다. 이 장치는 다양한 방식으로 샘플을 분석하기 위해 다양한 "디텍터 (detector) '를 수집하고 사용자가 사용할 수 있도록 할 수 있습니다. JSM T330A (JSM T330A) 는 또한 다양한 필터와 플레이트를 제공하여 유기 및 무기 샘플을 쉽게 분석 할 수 있습니다. JEOL JSM T330A에는 다중 요소 EELS 검출기가 장착되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 원자 배율 (atomic scale) 및 샘플에 존재하는 요소의 식별 (identification) 에서 향상된 이미징을 사용할 수 있습니다. 이 기능은 에너지 분산 분광법 (EDS) 및 X- 선 분광법 연구에서 매우 유용합니다. JSM T330A는 또한 다양한 방향 및 회전 기능을 제공하여 분석 중 샘플 조작을 허용합니다. 이 기능은 특히 복잡한 구조에서 3 차원 샘플과 객체를 이미징하는 데 매우 유용합니다. 마지막으로, JEOL JSM T330A는 내장 가스 진공 및 이온화 시스템으로 제작되어 샘플 오염을 방지합니다. 이 시스템은 환경 검사 (environmental scanning) 및 전자 현미경 (electron microscopy) 에 매우 유용하여 실시간으로 샘플을 분석 할 수 있습니다. 전반적으로, JSM T330A는 고해상도 이미징 및 완전한 샘플 분석을 제공하는 매우 유용한 스캐닝 전자 현미경입니다. 스캐닝 (Scanning) 및 샘플 정렬 (Sample Alignment) 의 자동 작동과 유기농 및 무기 샘플의 실시간 분석이 가능합니다. 또한, 내장 가스 진공 및 이온화 시스템은 샘플을 무조건적으로 유지하는 데 매우 도움이되며, 복잡한 샘플을 실시간으로 분석 할 수 있습니다.
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