판매용 중고 JEOL JSM T300 #293824883

JEOL JSM T300은 다중 축 샘플 스테이지와 역열 설계를 활용하여 이미징의 효율성과 정확도를 극대화하는 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 초고진공 환경, 고급 샘플 스테이지 포지셔닝 (sample stage positioning), 이미지 처리 시스템 (image processing system) 등이 있어 샘플을 신속하게 스캔 및 분석할 수 있습니다. JSM T300은 효율적이고 친환경적인 작동을 위해 터보 펌프를 사용합니다. 이로써 다른 SEM 보다 작동 온도가 훨씬 낮아져 원하는 SEM 이미징 해상도 (SEM Imaging Resolution) 및 빠른 속도로 대조 (Contrast) 할 수 있습니다. T300은 신뢰할 수있는 지진 격리 시스템을 갖추고 있으며, 이로 인해 경미한 진동이 발생하지 않습니다. 이 기능은 가장 작은 진동조차도 결과에 영향을 줄 수있는 응용 프로그램 (application) 에 특히 중요합니다. JEOL JSM T300은 또한 고정밀 보조 전자 영상을 제공합니다. 이것은 샘플의 다양한 기능 (지형에서 구성까지) 을 분석하는 강력한 기술입니다. 또한 해상도 (Resolution) 나 데이터 품질 (Data Quality) 을 그대로 유지하면서 이미지의 명암과 밝기를 조정할 수 있습니다. JSM T300은 지질학, 광물학, 생물학과 같은 광범위한 응용 분야에 적합합니다. 즉, 작은 세부 정보로 전체 샘플 서피스를 신속하게 분석하고 정확한 정량적 이미지를 찍을 수 있습니다. 또한 독보적인 ASE (Automated Sample Exchange) 로더를 장착하여 사용자가 진공실을 열지 않고도 서로 다른 샘플을 빠르고 안전하게 로드할 수 있습니다. T300 과 함께 사용되는 고급 (HA) 소프트웨어 시스템은 작업을 자동으로 제어하고 실시간 정보를 제공할 수 있습니다. 또한 자동화된 측정 및 분석 도구를 포함한 유연한 사용자 기능을 사용할 수 있습니다. 이를 통해 JEOL JSM T300은 가장 까다로운 연구 애플리케이션에 이상적인 선택이 됩니다. 장기적 운영에 매우 적합하며, 다양한 연구 분야에서 탁월한 성능을 제공합니다 (영문).