판매용 중고 JEOL JSM IT700HR #293820093

JEOL JSM IT700HR은 나노 기술 분야 내에서 고급 이미징 기능과 고해상도 분석을 전형화하는 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 과학 기기의 선도적 인 공급 업체 인 JEOL Ltd.가 설계 한 IT700HR은 연구원, 과학자, 엔지니어가 전례없는 정확성과 명확성으로 나노 스케일 구조의 복잡한 세계를 탐구 할 수있게합니다. JSM IT700HR의 핵심 기능은 초고해상도 이미징 성능으로, 원자 수준에서 샘플을 시각화 (Visualize) 할 수 있습니다. 현장 방출 전자 소스 (field emission electron source) 와 정교한 전자 광학으로, 이 SEM은 서브 나노 미터 해상도를 달성하여 샘플 표면에서 가장 작은 기능조차도 이미징하는 데 타의 추종을 불허합니다. IT700HR은 1kV에서 최대 0.8nm의 해상도를 자랑하여 나노 구조, 나노 입자 및 복잡한 표면 형태를 조사하기위한 강력한 도구입니다. JEOL JSM IT700HR은 뛰어난 이미징 기능 외에도, 정밀도, 깊이를 가진 샘플을 특성화할 수 있는 종합적인 분석 기능을 제공합니다. 이 시스템에는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 파장 분산 X- 선 분광법 (WDS) 검출기가 장착되어 있으며, 샘플 전체에서 화학 성분의 원소 분석 및 매핑이 가능합니다. EDS와 WDS의 통합은 표본에 존재하는 요소의 정확한 정량화를 보장하며, 심층적 인 재료 특성화 및 원소 식별을 촉진합니다. 또한 IT700HR은 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 기능을 갖추고 있으며, 방향 매핑 및 위상 식별을 통해 샘플의 결정 학적 분석을 가능하게합니다. 이 기능은 재료의 미세 구조 및 결정 학적 특성, 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 곡물 경계, 위상 변환 및 텍스처 분석에 대한 통찰력을 제공하는 데 특히 중요합니다. JSM IT700HR 은 다용성과 효율성을 위해 설계된 제품으로, 사용자 친화적인 소프트웨어 인터페이스와 직관적인 탐색 툴을 통해 이미징 및 분석 워크플로우를 효율적으로 수행할 수 있습니다. 이 시스템은 전도성 및 비 전도성 재료, 생물학적 샘플, 박막 등 다양한 샘플 유형을 지원하며, 다양한 분야에서 다양한 연구 응용 프로그램을 수용합니다. 또한 IT700HR은 SEI (secondary electron imaging), BEI (backscattered electron imaging) 및 저진공 이미징과 같은 고급 이미징 모드를 제공하여 사용자가 사용할 수있는 유연성 및 다양한 이미징 옵션을 향상시킵니다. 이러한 모드를 통해 연구자들은 표면 지형, 구성 변형, 재료 대비를 향상된 감도 및 해상도로 시각화 할 수 있습니다. JEOL JSM IT700HR에는 최첨단 전자광학 칼럼 (optical column), 정밀 단계 제어 메커니즘 (precision stage control mechanism) 및 고급 검출기가 장착되어 있어 까다로운 연구 환경에서 최적의 성능과 신뢰성을 보장합니다. 이 시스템은 뛰어난 이미징 품질, 분석 정확도, 운영 안정성을 제공하도록 세심하게 설계되었으며, 사용자가 나노 스케일 (Nanoscale) 탐사 및 발견의 경계를 넓힐 수 있습니다. 결론적으로, JSM IT700HR은 전자 현미경 스캔 영역에서 기술적 성취의 정점을 나타내며, 고급 나노 스케일 특성 및 분석에 대한 탁월한 이미징 기능, 분석 능력, 사용자 친화적 인 기능을 제공합니다. 획기적인 해상도, 분석 도구, 직관적 인 운영으로 IT700HR은 정확성과 명확성으로 나노 월드 (Nanoworld) 의 미스터리를 풀려고하는 연구원들을위한 최고의 악기로 자리 잡고 있습니다.