판매용 중고 JEOL JSM IT500 #293759670

ID: 293759670
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM IT500은 고급 연구 및 이미징 응용 프로그램을 위해 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 최첨단 도구는 고해상도 이미징 기능과 향상된 사용자 친화적 기능을 결합하여 재료 과학, 생명 과학, 지질학, 반도체 산업 등 다양한 분야의 연구원의 다양한 요구를 충족시킵니다. JSM IT500은 고광도 건 (gun-brightness gun) 을 갖춘 전계 방출 전자원을 특징으로하며, 저전압 (low-voltage) 과 고전압 (high voltage) 모두에서 뛰어난 이미징 해상도를 제공합니다. 이를 통해 연구원들은 정확성과 정확성으로 상세한 미세 구조 정보를 캡처 할 수 있으며, 나노 구조, 나노 입자 및 표면 형태를 분석하는 데 이상적입니다. 최대 30 kV의 가속 전압을 갖춘 JEOL JSM IT500은 다양한 샘플을 위한 다양한 이미징 옵션을 제공합니다. 이 기기에는 2 차 전자, 역 산란 전자 및 에너지 분산 X- 선 분광학 검출기를 포함한 여러 검출기가 장착되어 있으며, 다양한 샘플 유형을 특성화하기위한 포괄적 인 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. JSM IT500 은 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 고급 자동화 (automation) 기능을 갖추고 있어 초보자와 숙련된 사용자 모두를 손쉽게 운영 및 탐색할 수 있습니다. 현미경은 JEOL 독점 소프트웨어에 의해 제어되며, 이 소프트웨어는 다양한 이미징 모드, 이미지 처리 도구, 분석 기능을 제공하여 효율적인 데이터 획득 및 해석을 용이하게합니다. JEOL JSM IT500의 주요 특징 중 하나는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 시스템에 의해 활성화 된 고급 분석 기능입니다. EDS 검출기는 화학 조성물의 원소 분석 및 매핑을 허용하는 반면, EBSD 시스템은 결정 물질에서 결정 학적 방향 매핑 및 상 식별을 가능하게한다. 이미징 및 분석 외에도, JSM IT500은 직렬 블록 페이스 이미징 및 자동 스테이지 스캐닝 기능을 통해 고급 3D 재구성 기능을 제공합니다. 이를 통해 연구원들은 복잡한 구조와 내부 기능을 심층적으로 시각화하고 분석하기위한 자세한 3D 샘플 모델을 생성 할 수 있습니다. JEOL JSM IT500에는 비전도 샘플을 이미징하기위한 가변 압력 기능, 동적 실험을위한 시투 현미경 실 (in situ microscopy chamber), 온도 민감한 샘플을위한 극저온 냉각 시스템 (cryogenic cooling system) 등 다양한 액세서리와 옵션이 장착되어 있습니다. 전반적으로 JSM IT500은 최첨단 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 연구 응용프로그램을 위한 최첨단 이미징, 분석, 3D 재구성 기능을 제공합니다. 고해상도 이미징, 고급 자동화 기능, 다목적 분석 툴을 갖춘 JEOL JSM IT500 (JOL JSM IT500) 은 현미경의 경계를 밀고 정밀하고 세밀하게 현미경적 세계를 탐구하려는 필수 도구입니다.
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