판매용 중고 JEOL JSM IT500 HR #293747829

ID: 293747829
빈티지: 2018
Scanning Electron Microscopes (SEM) Backscatter EDAX EDS Detector Low vacuum mode 2018 vintage.
JEOL JSM IT500 HR은 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 시야는 최대 13mm, 가속 전압은 최대 30KV입니다. CSA (Well-Controlled Spherical Aberration) 특성을 갖춘 고해상도 이미징을 위해 새로 개발 된 전자기 이중 렌즈를 갖춘 새로운 평면 유형 타원 정전기 렌즈를 사용합니다. 이 CSA는 표본 표면에 초점을 맞춘 3D 동적 (3D Dynamic) 을 가능하게하여 해상도 이미지가 더욱 선명해집니다. JSM IT500 HR은 최대 500 ° C까지 가열할 수 있고 열 민감도, 열 처리 또는 고온 샘플을 분석하는 데 적합한 새로운 향상된 고온 단계 (HTS) 를 갖추고 있습니다. 이것은 액체 질소 냉각이 필요하지 않고 새로 개발 된 액체 질소 냉각 요소를 통해 달성됩니다. 또한 새로운 정밀 확대/축소/미세 확대/축소 메커니즘이 있으므로 큰 확대에서도 표본의 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. 이 스캔 전자 현미경은 또한 향상된 분석 성능을 위해 신호 대 잡음 비율을 갖습니다. JEOL JSM IT500 HR에는 20 ~ 0.01 Pa.에서 조절 할 수있는 새로운 고 진공 시스템을 갖춘 고압 SEM (HPSEM) 시스템이 있습니다. 이 시스템은 특히 고압 표본을 분석하는 데 적합합니다. 또한 신호 대 잡음비 (signal-to-noise ratio) 가 개선되고 해상도가 높아진 요소 컴포지션을 감지 할 수있는 새로운 EDX 검출기가 장착되어 있습니다. JSM IT500 HR을 사용하는 전용 소프트웨어는 사용자 정의 취득 후 이미지 분석을 제공합니다. 이 소프트웨어 패키지는 현미경에서 가져온 이미지의 기능을 분석, 측정, 비교하는 데 도움이 됩니다. 분석된 이미지의 결과를 정량화하는 데 도움이 되는 다양한 통계적 근사치 (statistical approximation) 도구도 있습니다. 전반적으로 JEOL IT500 HR 스캐닝 전자 현미경은 고유한 고해상도 평면형 타원형 정전기 렌즈, 고급 HTS 및 EDX 기능을 기반으로 강력한 이미징 및 분석 도구를 제공합니다. 강력한 이미징 (Imaging) 과 분석 (Analysis) 기능이 결합된 이 제품은 다양한 분야의 연구 개발 (Research and Development) 을 위한 훌륭한 도구입니다.
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