판매용 중고 JEOL JSM IT200A #9409368

JEOL JSM IT200A는 전계 방출 유형 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 최대 3 나노 미터의 고해상도 기능을 제공하기 위해 현장 방출 전자 소스 (field-emission electron source), 대면적 탐지기 (large area detector) 및 고전압 회로 (high-voltage circuitry) 가 장착되어 있습니다. 이 전자원은 잘 정의 된 초점 크기와 운동 에너지를 가진 전자의 배열을 생성합니다. 그 다음 에 이 "소오스 '에 의해 방출 되는 전자 들 을" 샘플' 위 로 주사 하여 그 고해상도 와 명암비 를 특징 으로 하는 "이미지 '를 만든다. JSM IT200A는 여러 가지 고급 이미징 모드를 제공하는 고급 시스템입니다. 여기에는 샘플에 수직으로 초점을 맞춘 전자 빔을 사용하여 샘플에서 방출 된 x- 선 또는 저에너지 광자를 감지하는 2 차 전자 (SE) 영상이 포함됩니다. 또한 백스캐터 전자 (BSE) 이미징 (backscatter electron (BSE) imaging) 이 있으며, 이는 비스듬한 각도로 전자 빔을 사용하여 샘플의 가장 바깥쪽에서 반사 된 전자를 감지합니다. 또한, 이 기기는 SE 및 BSE의 조합을 위해 동시 SE 및 BSE 이미징을 사용하여 높은 명암의 고해상도 이미지를 제공 할 수 있습니다. 이미지 처리 기능의 경우, JEOL JSM IT200A는 가변 빔 에너지 화, 큰 샘플에 대한 가변 속도 스캔, 가변 확대, 가변 스팟 크기 및 초점 깊이가 가능합니다. 배율은 10X에서 500,000X이며 개체 필드의 범위는 0.1 미크론에서 2cm입니다. IT200A 는 이미징 기능 외에도 다양한 분석 툴을 갖추고 있습니다. 여기에는 EDS (에너지 분산 X- 선 분광법), WDS (파장 분산 X- 선 분광법), EBIC (전자 백스캐터 회절) 및 3D 재구성이 포함됩니다. 이 기기는 또한 샘플 준비, 분석, 아카이빙을위한 자동화 된 시스템을 갖추고 있으므로 일관된 품질 결과를 얻을 수 있습니다. 크기 측면에서 JSM IT200A는 1,660 x 845 x 1,362mm, 무게는 310kg에 불과한 소형 경량 기계입니다. 이 때문 에, 예산 과 공간 이 제한 되어 있는 실험실 을 선택 하는 것 이 좋다. 전반적으로 JEOL JSM IT200A (Advanced Scanning Electron Microscope) 는 뛰어난 이미지 해상도와 명암비, 광범위한 분석 도구, 사용 편의성을 위한 높은 수준의 자동화 기능을 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 또한 가볍고, 경제적이며, 컴팩트하며, 예산으로 실험실에 이상적인 선택입니다.