판매용 중고 JEOL JSM IC848A #9039276

JEOL JSM IC848A는 다양한 분석 및 이미징 응용 프로그램을 위해 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 특히, 이 SEM은 생물학적, 물리적 샘플을 조사하고 미세 구조의 정확한 분석을 위해 탁월한 해상도를 제공합니다. 광범위한 분석 기능을 갖춘 JEOL IC848A 는 다양한 미세한 구조의 매우 상세하고 정확한 이미징 (imaging) 을 만들 수 있습니다. 이 강력하고 효율적인 SEM에는 고해상도 Erwin Einzel 렌즈와 고급 4 극 자기 전자열이 장착되어 있습니다. 이러한 기술 조합은 샘플의 분석과 이미징 (Imaging) 에서 높은 수준의 정밀도를 제공합니다. 또한, 이 SEM 에서 사용하는 스캐닝 장비 (Scanning Equipment) 에는 고급 필드 설계가 포함되어 있어 낮은 배율로 샘플의 가장 상세한 세부 사항을 캡처할 수 있습니다. 이 기능은 JEOL IC848A를 스캔 및 이미징 응용 분야에 유용한 도구로 만듭니다. 또한, 이 기기는 0.02 미크론의 해상도에서 샘플 구조의 변화를 감지 할 수있는 전자 광학 열 (electron optical column) 과 디지털 판독 시스템 (digital readout system) 을 특징으로합니다. 고해상도와 첨단 탐지장치로 인하여, JEOL IC848A는 금속, 도자기, 복합 재료 등 다양한 물질의 미세 구조를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이미징 기능 측면에서 JEOL IC848A는 전자 사진 승수 카메라와 초고감도 검출기를 갖추고 있습니다. 이 두 가지 기능은 다양한 샘플 유형에 대해 고품질, 정밀한 이미징 결과를 제공합니다. 사용자는 여러 이미지 캡처 시스템을 연동하여 SEM (Optical Function) 을 제어하고 시간을 절약할 수 있습니다. 성능을 향상시키기 위해 JEOL IC848A 는 사용자가 재료의 미세 구조를 매우 정확한 방식으로 이해할 수 있도록 하는 최신 소프트 X 선 리소그래피 (soft X-ray lithography) 기술을 통합합니다. 또한, 이 SEM은 샘플의 표면 레벨 세부 (surface level detail) 를 감지하고 주어진 재료에 대한 원소 분석을 수행 할 수있는 통합 검사 머신과 함께 작동합니다. 전반적으로, JSM IC848A는 강력하고 고급 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 분석 및 이미징 기능을 제공합니다. 첨단 기능, 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 통해 다양한 소재의 미세 구조를 정확하게 특성화하고 분석할 수 있는 귀중한 도구입니다.