판매용 중고 JEOL JSM 840 / 840A #293724138

JEOL JSM 840/840A는 연구, 산업 및 학계의 광범위한 응용을 위해 설계된 다재다능하고 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고급 이미징 기능과 사용자 친화적 인터페이스로 유명한 JSM 840/840A (JSM 840/840A) 는 다양한 소재의 미세 구조와 구성을 고해상도로 분석하기 위한 강력한 도구입니다. JEOL JSM 840/840A는 강력하고 안정적인 전자 광학 장비를 갖추고 있으며, 5배 ~ 300,000배의 배율을 제공하는 고해상도 이미징이 가능합니다. 이 시스템은 고휘도 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 전자총, 전자기 렌즈 (electromagnetic lenses) 및 검출기로 구성되어 표면의 명확하고 상세한 이미지를 생성합니다. 현미경에는 또한 2 차 전자 (SE), BSE (backscattered electron) 및 X- 선 검출기를 포함한 여러 검출기가 포함되어 있으며, 사용자가 샘플 형태, 구성 및 결정학에 대한 포괄적 인 정보를 얻을 수 있습니다. JSM 840/840A (JSM 840/840A) 의 뛰어난 기능 중 하나는 사용자에게 친숙한 인터페이스와 직관적인 제어 기능으로, 이미징 프로세스를 간소화하고 모든 기술 수준의 사용자가 액세스할 수 있게 해 줍니다. 현미경에는 실시간 이미지 획득, 처리, 분석이 가능한 디지털 이미징 장치가 장착되어 있습니다. 또한이 기계는 이미지 스티칭 (image stitching), 자동 입자 분석 (automated particle analysis) 및 3D 재구성 (3D reconstruction) 과 같은 고급 이미징 모드를 제공하여 심층 샘플 특성화를위한 풍부한 도구를 제공합니다. 성능 측면에서 JEOL JSM 840/840A는 해상도, 감도 및 속도가 뛰어납니다. 현미경은 나노 미터 이하의 해상도를 달성 할 수 있으며, 샘플 표면에서 나노 스케일 (nanoscale) 특징과 구조를 시각화 할 수 있습니다. 검출기의 높은 감도는 샘플에서 사소한 조성 차이 (compositional difference) 와 원소 분포 (elemental distribution) 를 감지 할 수있다. 게다가, 이 도구의 빠른 스캐닝 (scanning) 기능은 이미지 품질을 저하시키지 않고 넓은 샘플 영역을 신속하게 이미징할 수 있게 해 줍니다. JSM 840/840A는 다양한 샘플 유형, 모양, 크기를 수용하도록 설계되었습니다. 현미경에는 가로방향과 세로방향 모두 정밀한 샘플 포지셔닝 (Sample Positioning) 과 조작 (Manipulation) 이 가능한 다양한 스테이지 에셋이 장착되어 있습니다. 또한이 모델은 고 진공 (high-vacuum), 저 진공 (low-vacuum) 및 환경 SEM (Environmental SEM) 을 포함한 다양한 이미징 모드를 제공하여 특성과 특성이 다른 샘플을 분석 할 수 있습니다. 재료 과학의 경계를 넓히려고하는 연구자와 과학자들을 위해 JEOL JSM 840/840A는 다양한 선택적 액세서리와 기능을 제공합니다. 여기에는 원소 분석을위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS), 결정 정보를위한 전자 역 산란 회절 (EBSD) 및 재료의 발광 특성을 연구하기위한 카토 돌루미네 센스 (CL) 가 포함됩니다. 이 액세서리는 현미경의 기능을 확장하고, 종합적인 샘플 특성화를위한 고급 분석 기술을 가능하게합니다. 결론적으로, JSM 840/840A 스캐닝 전자 현미경은 마이크로 및 나노 스케일에서 광범위한 물질을 이미징 및 분석하기위한 강력하고 다재다능한 도구입니다. 고급 이미징 기능, 사용자 친화적 인터페이스, 종합적인 분석 기능을 갖춘 JEOL JSM 840/840A는 재료 과학, 지질학, 생물학 및 기타 분야의 다양한 응용 분야에 적합합니다. JSM 840/840A (JSM 840/840A) 는 재료의 표면 형태를 조사하거나, 표본 내에서 원소 분포를 매핑할 때, 연구원들에게 미세 구조 분석의 세계를 심층적으로 탐구해야 할 도구를 제공합니다.