판매용 중고 JEOL JSM 820 #9200141

JEOL JSM 820은 나노 스케일에서 정밀 영상을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기의 디자인은 생물학적 표본의 이미징, 다양한 재료의 3D 지형 이미징 (3D topography imaging) 등 다양한 응용 분야에 최적화되었습니다. 저전압 (low voltage) 전자에너지 기능이 뛰어나 고해상도 (high resolution) 의 초저전압에서 이미지를 캡처할 수 있습니다. 이것은 섬세한 샘플을 이미징 할 때 표본 손상을 최소화하는 데 도움이됩니다. JSM 820은 또한 디지털 이미징 기능 (샘플 표면의 정확한 시각화를 위해 16 비트 회색 음영 이미지 생성 가능 카메라) 을 제공합니다. 현미경은 또한 최소 스팟 해상도를 2nm까지 자랑하며, 스팟 스캔 모드를 통해 최대 250 x 250m까지 영역을 스캔 할 수 있습니다. JEOL JSM 820에는 2 차 전자 (SE), 백 스캐터 전자 (BSE) 및 X- 선을 포함한 여러 신호의 수집을위한 광범위한 인 렌즈 검출기가 제공됩니다. 이 전자 검출기는 감도 및 최대 동적 범위 (dynamic range) 측면에서 매우 광범위한 범위를 제공합니다. JSM 820 (JSM 820) 의 가장 편리한 속성 중 하나는 큰 샘플 챔버 (최대 67mm 높이 클리어런스) 로, 큰 표본을 현미경으로 쉽게 로드하여 챔버에서 제거하지 않고 조작 할 수 있습니다. 또한, JEOL JSM 820은 자동 샘플 로딩 기능을 갖춘 자동 샘플 전송 시스템 (Automated Sample Transfer System) 을 제공하여 샘플 오염 위험을 줄입니다. 강력한 이미징 기능과 안정적인 성능을 갖춘 JSM 820 은 다양한 애플리케이션에 이상적인 SEM 입니다. 섬세한 표본의 이미징 (Imaging delicate) 에 관심이 있거나 최소 2nm (spot resolution) 의 넓은 영역을 이미징하는 것이 특히 신뢰할 수있는 선택입니다.