판매용 중고 JEOL JSM 7600F #293661547

JEOL JSM 7600F는 분석 및 연구 응용을 포함한 광범위한 응용을 위해 설계된 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 첨단 (advanced) 설계가 적용되었으며, 가장 까다로운 요구 사항도 충족할 수 있는 다양한 기능을 제공합니다. JSM 7600F의 중심에는 초전압 가속 전압 (Ultrahigh Accelerating Voltage Potential) 이 있으며, 이는 최대 30kV의 작동을 제공 할 수 있습니다. 고가속 전압 (High Accelerating Voltage) 은 고해상도 이미징 및 분석 기능에 필요한 고해상도 (High Resolution) 및 명암비 (Contrast Level) 를 얻는 데 필수적입니다. 현미경은 또한 고성능 전계 방출 건 (FEG) 과 2 차 전자 (SE) 및 BSE (back-scattered electron) 를 포함한 여러 탐지 경로를 갖는 이미징 시스템을 통합 한 통합 설계를 가지고 있습니다. 이 설계를 통해 광범위한 지형 및 구성 구조 정보를 캡처할 수 있습니다. 또한, JEOL JSM 7600F에는 측면 해상도 (최대 2.5nm) 의 이미지를 제작할 수 있는 고급 스캐닝 시스템이 장착되어 있습니다. 이 놀라운 고해상도 이미징 기능은 현미경의 주요 장점 중 하나이며, 단백질, 바이러스, 박테리아 등 중저분자 중량 (low-to-medium-molecular-weight) 표본의 연구와 같은 연구 응용 분야에서 매우 유용합니다. "마이크로스코프 '는 또한 높은 배율 에서도 대조 가 높은" 이미지' 를 만들 수 있어서 매우 훌륭 한 구조 를 촬영 하는 데 이상적 이다. 이 현미경에는 디지털 스테이지 (digital stage), 전동식 포커싱 (motorized focusing), 자동 소스 정렬 기능 등 다양한 기능이 있습니다. 또한 JSM 7600F (Automated Digital Controls) 는 자동화된 디지털 컨트롤을 탑재하여 사용자가 애플리케이션에 가장 알맞게 현미경을 사용자 정의할 수 있도록 합니다. 이러한 디지털 컨트롤에는 스캔 및 분석을위한 고속 (highspeed) 컨트롤과 다중 이미지 처리 기능이 포함됩니다. 현미경에는 자동 빔 감속 시스템 (automated beam deceleration system) 이 포함되어 있어 전자 빔으로 인한 손상으로부터 표본을 보호합니다. 전반적으로, JEOL JSM 7600F는 다양한 표본 유형을 연구하고 분석하는 데 사용될 수있는, 고급적이고 신뢰할 수있는 스캐닝 전자 현미경입니다. 즉, 다양한 기능과 기능을 갖춘 사용자에게 이미지 처리 (Imaging) 및 분석 (Analysis) 분야에서 최고의 해상도와 명암비 (Contrast Level) 를 제공합니다.