판매용 중고 JEOL JSM 7600F #293660103

JEOL JSM 7600F는 뛰어난 성능, 작동 및 신뢰성을 제공하도록 설계된 고급형 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 주사 전자 현미경은 이미징 (Imaging) 에서 위상 분석 (Phase Analysis) 에 이르기까지 최대 0.2nm의 해상도로 다양한 작업을 수행 할 수 있습니다. JSM 7600F에는 고성능 전자 광학 장비가 장착되어 있으며, 작동 전압은 0.5 ~ 30kV, 빔 전류는 최대 0.5nA입니다. 따라서 이미지 해상도를 극대화하고 초점 제어를 최적화할 수 있습니다. 또한 새로운 디지털 신호 처리 모듈 (digital signal processing module) 을 통해 뛰어난 명암으로 고품질 이미지를 캡처할 수 있습니다. 이 장치에는 광시야각 (Wide Field Of View) 이 장착되어 있어 가장 세밀한 이미지를 더 크게 만들 수 있습니다. 통합 에너지 필터를 사용하면 정확한 분광형 이미지와 X 선 매핑을 취할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 지형, 화학적 매핑과 같은 더 복잡한 분석 기능을 수행 할 수 있습니다. 이 장치에는 또한 모든 다른 샘플 (sample) 유형에 안정적인 플랫폼을 제공하도록 설계된 특수 샘플 홀더 (sample holder) 가 있습니다. 따라서 성능 수준을 저하시키지 않고도 샘플 유연성을 향상시킬 수 있습니다. 홀더는 또한 3 축 스테이지 포지셔닝 시스템을 갖추고 있으며, 조잡하고 세밀하게 조정할 수 있는 최대 동작 범위를 제공합니다. 추가 기능으로는 디지털 이미지 캡처, 다중 표본 홀더, 고급 정보 오버레이 장치 등이 있습니다. 디지털 이미지 캡처는 사용자에게 고품질 이미지 결과를 제공하며, 여러 홀더는 19mm, 37mm 및 75mm 핀 스터브를 지원합니다. 고급 정보 오버레이 시스템을 사용하면 샘플 기능을 더 잘 관찰 할 수 있습니다. 이 도구는 또한 열, 전기, 자기장과 같은 다양한 환경 조건을 지원합니다. 전반적으로 JEOL JSM 7600F 는 강력하고 신뢰할 수 있는 툴로서, 사용자가 정확하고 정확하게 다양한 이미징/분석 작업을 수행할 수 있게 해 줍니다. 이 주사 전자 현미경 (scanning electron microscope) 은 뛰어난 이미지 해상도를 제공하며 다양한 샘플 유형과 환경을 수용할 수 있습니다. '신뢰성 있고 정확한' 분석을 원하는 사용자의 요구를 충족할 수 있도록 설계된 '신뢰성 있는' 툴입니다.