판매용 중고 JEOL JSM 7500F #293641220

JEOL JSM 7500F는 표면 및 샘플 피쳐의 고급 이미징 및 분석에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 SEM에는 상세한 표면 감상을위한 스테이지 샘플 스캐닝, 여러 영역의 동시 영상을위한 멀티 빔 전자 열 (multi-beam electron column), 금속 및 반도체에서 유기 화합물에 이르기까지 다양한 물질을 분석 할 수있는 스테이지 샘플 스캐닝 (stage sample scanning) 등 고급 이미징 및 분석 기능이 장착되어 있습니다. JEOL JSM-7500F 는 매우 민감하며, 최대 가속 전압 (30 kV) 과 고속 데이터 획득 장비를 제공하는 전자 열이 있습니다. 이 시스템은 초당 최대 60개의 이미지를 제공하며, 이미지 크기는 최대 2000 x 2000 픽셀입니다. 또한 재료를 정확하게 이미징하기위한 고속 X- 선 매핑 장치가 있습니다. 또한, 기계에는 정확한 샘플 위치를 위해 고정밀 컴퓨터 제어 샘플 스테이지가 장착되어 있습니다. JSM 7500F는 또한 EDS/EDX 분광법을 포함한 고급 분석 기능을 가지고 있으며, 이는 고해상도 원소 매핑을 통해 샘플을 동시에 분광학적으로 분석 할 수 있습니다. 또한 전자 빔이 장착 된 에너지 분산 X- 선 이미징을 사용하여 X- 선 강도에 따라 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한 JSM-7500F (JSM-7500F) 는 획득한 데이터를 조작하고 해석할 수 있는 이미지 처리 및 분석 기능을 갖춘 높은 수준의 자동화 기능을 제공합니다. 또한 EBSD 측정 기능이 장착되어 있으며, 이를 통해 결정 구조와 그레인 경계를 자동으로 매핑 할 수 있습니다. 결론적으로, JEOL JSM 7500F 주사 전자 현미경은 물질의 표면 영상 및 분석을위한 강력하고 신뢰할 수있는 도구입니다. 다재다능한 이미징 (Imaging) 과 분석 (Versitile Analysis) 기능을 통해 다양한 복잡성의 재료를 분석하려는 실험실이나 연구 시설에 이상적입니다.