판매용 중고 JEOL JSM 7400F #9384379

JEOL JSM 7400F는 재료 과학 및 생물학적 연구에서 다양한 응용을 위해 설계된 FESEM (field emission scanning electron microscope) 입니다. JSM 7400F는 통합 UHV (Ultra High Vacuum) 장비와 정밀한 원소 분석을위한 고해상도, 에너지 분산 X 선 검출기를 갖춘 고급 FESEM입니다. 현미경의 전자 공급원은 lanthanum hexaboride field emission gun (FEG) 으로, 고해상도 이미징을 제공하고 운영 비용을 줄입니다. FEG는 VEGC (Active Variable Electron Gun Control) 시스템으로 구동되며, 이는 최적의 성능을 위해 전압, 전류 및 총 각도를 정확하게 제어합니다. 강력한 고해상도 정전기 렌즈에는 정밀한 이미지 제어를 위해 가변 콘덴서 조리개 및 필드 다이어프래그가 장착되어 있습니다. JEOL JSM 7400F는 매우 높은 신호 대 잡음 비율로 설계되었으며, 탁월한 이미징 속도와 감도를 제공합니다. 또한 내장 저진공 작동 모드를 제공하여 전기 및 기계적으로 민감한 샘플과 통합 할 수 있습니다. 에너지 필터는 0.9 eV 이내의 해상도를 제공하는 반면, 열 내 샘플 챔버 (in-column sample chamber) 는 생물학적 표본을 포함하여 가장 작은 물질에서 가장 무거운 물질까지 광범위한 샘플을 수용합니다. 현미경은 정확한 분석 장치로, 고급 X- 선 검출기를 통해 정확하고 신뢰할 수있는 측정을 제공합니다. 에너지 분산 분광법 (EDS) 단위는 샘플의 화학 조성을 식별 할 수 있습니다. WDS (Integrated Wavelength-Distersive Spectroscopy) 시스템은 높은 감도와 뛰어난 정밀도로 원소 매핑 기능을 더욱 향상시킵니다. JSM 7400F는 실온 (20 ° C) 에서 300 ° C까지 다양한 온도에서 작동 할 수 있습니다. 기존 및 인 렌즈 (in-lens) 검출기가 특징이며, 대형 표본 실은 여러 검출기와 동시 영상을 가능하게합니다. 편리하게 사용할 수 있는 JEOL JSM 7400F 설계에는 사용자 인터페이스와 내비게이션 콘솔 (Navigation Console) 이 잘 정리되어 있어 사용 편의성과 정확한 제어가 가능합니다. JSM 7400F (JSM 7400F) 는 다양한 물질 및 생물학적 표본의 다용도 분석 및 영상을 위해 설계된, 고급, 고성능 전계 방출 스캐닝 전자 현미경입니다. 고급 FEG 및 X- 선 검출기로 뛰어난 이미징 해상도, 와이드 샘플 챔버, 신뢰성 있고 정확한 테스트를 제공합니다. JEOL JSM 7400F 의 편리한 사용자 인터페이스와 정밀 분석 기능으로, 오늘날의 과학 연구를 위한 신뢰할 수 있는 최첨단 솔루션입니다.