판매용 중고 JEOL JSM 7000F #9227135
URL이 복사되었습니다!
확대하려면 누르십시오
JEOL JSM 7000F는 운영자에게 종합적인 분석 기능과 뛰어난 이미징 해상도를 제공하는 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기는 초고진공 (UHV) 시스템, 고급 대비 기술 및 다양한 분석 액세서리를 갖추고 있습니다. 결과적으로 JEOL JSM 7000 F는 신경 과학 연구, 재료 과학, 산업 실패 분석, 법의학 조사 등 다양한 응용 분야에 널리 사용됩니다. JSM 7000F는 20mm 간격 (gap size) 과 광범위한 현재 범위 (supporting current range) 를 제공하여 고해상도와 세부적인 방법으로 표본을 검사할 수 있습니다. 기기의 현장 방출 소스 (field emission source) 는 또한 작동 전압이 낮아 더 높은 해상도의 이미징을 가능하게하여 신호 대 잡음 비율이 높아지고 명암이 향상됩니다. 또한, UHV 시스템은 뛰어난 샘플 안정성을 제공하여 빠르고 쉬운 샘플 로드/언로드를 용이하게 합니다. JSM 7000 F에 사용 가능한 분석 구성 요소에는 전자 백 산란 회절 (EBSD), 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS), X- 선 매핑 및 전자 유도 X- 선 방출 (EIKE) 기능이 포함됩니다. 이 구성 요소를 사용하면 기기가 표본의 구조, 구성, 속성에 관한 자세한 정보를 신속하게 얻을 수 있습니다. JEOL JSM 7000F는 또한 SPM 프로브 및 라만 분광법 (Raman spectroscopy) 과 같은 보완 기술과 통합되어 분석 능력을 강화할 수 있습니다. JEOL JSM 7000 F에는 현미경을 모니터링, 최적화, 최대화할 수 있는 수많은 소프트웨어 제어 도구가 장착되어 있습니다. 제공되는 소프트웨어 컨트롤 중 일부에는 이미지 스태킹, 자동 이미지 스티칭 및 비디오 녹화가 포함됩니다. 이를 통해 사용자는 후속 분석을 위해 데이터를 쉽게 캡처 할 수 있습니다. 이 현미경은 또한 직관적 인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 갖추고 있으며, 운영자에게 모든 컨트롤 및 기능에 대한 빠른 액세스를 제공합니다. 전반적으로, JSM 7000F는 고급, 분석 연구를 위해 강력한 고성능 SEM (SEM) 을 원하는 사람들에게 탁월한 선택입니다. UHV 시스템, 광범위한 분석 기능, 직관적인 소프트웨어 등 다양한 애플리케이션에 탁월한 성능을 제공합니다 (영문).
아직 리뷰가 없습니다