판매용 중고 JEOL JSM 7000F #9145727

JEOL JSM 7000F는 뛰어난 이미징 및 정확한 분석 기능을 위해 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 제품은 현장 방출 전자 소스와 환경 친화적 인 트리보 건 (Tribo-gun) 을 장착하여 입사 전류가 높고 명암이 개선되었습니다. 빔의 최대 가속 전압 (30kV) 은 기존 SEM보다 뛰어난 해상도와 더 큰 초점 깊이를 제공합니다. 다른 기능으로는 냉장 방출, 약 1-2nm의 작은 반점 크기, 높은 밝기 및 최소 난시가 있습니다. JEOL JSM 7000 F는 반도체, 나노 재료, 복합 물질, 의료 표본 등을 포함하여 광범위한 재료 및 응용 분야에 대한 독특한 이미징 기능을 제공합니다. 전자는 일반적인 SEM 시스템보다 낮은 전압에서 높은 전도성 및/또는 자기 물질을 이미징하기위한 뛰어난 초저전압 영상을 제공합니다. 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 기능을 통해 미묘한 특징과 결함을 쉽게 파악할 수 있으며, 심도 (depth of field) 를 통해 샘플의 모든 부분에서 강력한 정량적 측정이 가능합니다. 현미경에는 동축 총 렌즈 시스템과 12 ~ 36mm의 작업 거리가 있습니다. 따라서 작업 거리, 해상도를 쉽고 빠르게 변경할 수 있습니다. 또한 JSM 7000F 에는 자동 대비 (automated contrast) 및 밝기 조정, 여러 시야에서 동시에 이미징 수행, 초점 자동 조정 등의 고급 이미징 툴이 제공됩니다. 분석 목적으로 JSM 7000 F에는 완전 통합 EDS 검출기가 장착되어 있습니다. 이 에너지 분산 분광법 (Energy-dispersive spectroscopy) 기술은 광범위한 응용 프로그램에서 빠르고 정확한 원소 분석에 최적화되어 있습니다. 정밀 샘플 단계는 스캐닝 및 X 선 매핑을 위해 부드럽고 빠르게 움직입니다. 전반적으로 JEOL JSM 7000F는 강력한 고성능 SEM으로, 다양한 표본에 대한 뛰어난 이미징 및 정확한 분석을 제공할 수 있습니다. 고급 전자 소스, 정밀 샘플 스테이지 및 통합 EDS 검출기는 이미징 및 원소 분석에 이상적인 솔루션이 됩니다.