판매용 중고 JEOL JSM 7000F #293649519

JEOL JSM 7000F는 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 이미징 기능, 정확성 및 사용 편의성의 탁월한 조합을 제공합니다. JEOL JSM 7000 F 는 고급 현장 방출 스캐닝 (scanning) 전자를 활용하여 뛰어난 화질을 제공하며, 최적의 해상도와 명암비를 제공하며, 사용자 안전을 유지합니다. 이 주사 전자 현미경은 높은 진공, 낮은 진공, 환경 모드에서 작동 할 수 있으며, 연구자들은 모든 정권의 작은 표본을 정확하게 분석 할 수 있습니다. 현미경은 빠르고 쉬운 작동을 위해 몇 가지 유용한 기능을 제공합니다. 자동 초점 시스템 (auto-focus system) 은 선명하고 깨끗한 이미지를 제공합니다. 즉, 한 번의 클릭으로 사용자가 샘플에 빠르게 초점을 맞출 수 있습니다. 이 현미경은 또한 자동 샘플 내비게이션 시스템 (automated sample navigation system) 을 갖추고 있으며, 사용자가 샘플을 정확하고 정확하게 정렬하여 더 선명하고 상세한 이미지를 만들 수 있습니다. JSM 7000F (JSM 7000F) 는 다양한 이미지 분석 기능을 제공하여, 거리 측정, 구성요소 감지, 샘플과 환경 간의 관계 조회 등을 지원합니다. 전자 빔 터널 탐지기 (electron beam tunnel detector) 는 보이지 않는 구조 요소를 정확하게 캡처 할 수있는 반면, 3D 광학 디스플레이는 표면 지형을 분석 할 수 있습니다. 환경 SEM (Environmental SEM) 은 또한 통제 된 조건에서 샘플을 분석 할 수 있으며, 연구자들은 자연 상태에서 생물학적 및 기타 물질을 관찰 할 수있는 능력을 제공합니다. JSM 7000 F (JSM 7000 F) 에는 다양한 특수 탐지기 (detector) 가 장착되어 있어 지정된 영역 또는 요소의 정확한 이미징이 가능합니다. 고급 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 기능과 동시 EDS/SEM 분석을 통해 연구원들은 샘플의 원소 구성 및 분포에 대한 빠르고 정확한 분석을 얻을 수 있습니다. 이 주사 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 또한 빠르고 정확한 이미지 검색 (Image Retrieval) 을 가능하게 하는 고급 하드웨어 설계를 갖추고 있으며, 연구원들이 결과를 빠르고 쉽게 문서화하고 다른 사람들과 공유 할 수 있습니다. JEOL JSM 7000F는 현미경의 가장 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계된 고급 SEM입니다. 첨단 이미징 (advanced Imaging) 기능을 운영 편의성 (Operation of Operation) 과 대규모의 잠재적 (Potential) 애플리케이션과 결합하면 오늘날의 연구 실험실에 이상적인 선택이됩니다. JOL JSM 7000 F (JOL JSM 7000 F) 는 액세스 가능한 가격대와 인상적인 기능으로, 모든 연구원이 이미지 기능을 한 단계 높이려는 훌륭한 선택입니다.