판매용 중고 JEOL JSM 6700F #9402131
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ID: 9402131
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer control
Imaging
Semi in-lens
Resolution: 1280 x 1024 Pixels
EDS with variety of detectors
GUI Interface
Mouse
Operating system: Windows 7
Cold cathode field emission electron gun
Electromagnetic deflection alignment
Conical objective lens
Conical FE Gun
Specimen chamber, 8"
Resolution:
1.0 nm at 15 kV
2.2 nm at 1 kV
Magnification:
LM Mode: 25 - 19,000
SEM Mode: 100 - 650,000
Modes of operation:
Secondary Electron (SE) mode
With lower SE Detector
In-Lens detector with voltage filter
Backscattered Electron (BSE) mode
With retractable solid state
THERMONORAN VANTAGE X-Ray microanalysis system
Power supply:
Accelerating voltage: 0.5 - 30kV
Specimen illumination current: 10^-13A to 2 x 10^-9A.
JEOL JSM 6700F는 고성능 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 특정 SEM 은 다용도가 높으며 고급 이미징 (advanced imaging) 기능을 갖추고 있어 많은 고급 이미징 애플리케이션을 위한 탁월한 선택입니다. JEOL JSM 6700 F는 FEG (field-emission gun) 전자원으로 설계 및 구성되어 우수한 에너지 해상도와 최소 빔 드리프트가 보장됩니다. 이 모델에는 에버 라드 틸리 인 렌즈 (Everard Tilly in-lens) 이온 검출기와 OMISA Omnispectral 검출기가 장착되어 있으며, 최적의 이미지 초점과 품질을 제공하며 다양한 이미징 기능을 제공합니다. JSM 6700F의 다른 기능으로는 디지털 스캔 제어 시스템, 밝은 조명 장치, 회절 기능이있는 이온 검출기, 고해상도 디지털 카메라 시스템 등이 있습니다. JSM 6700 F는 1.5 nm 이하로 뛰어난 이미징 해상도를 제공할 수 있으며, 이는 셀룰러 구조, 입자 표면 지형의 소규모 이미징 (small-scale imaging) 과 같은 정교한 어플리케이션에 적합합니다. 또한 자동 스캔 제어 시스템 (Automated Scan Control System) 은 빠르고 정확한 샘플 탐색 및 이미징을 지원하므로 효율성과 신뢰성이 향상됩니다. 이 모델에는 필드 방출 (field-emission) 및 보조 전자 이미징 (secondary electron imaging) 기능이 포함되어 있으므로 지형 및 구성 세부 사항을 모두 캡처 할 수 있습니다. JEOL JSM 6700F는 최고의 이미징 및 분석 요구 사항을 충족하도록 설계된 견고하고 안정적이며 다양한 SEM 제품입니다. 세포와 나노 입자 (nanoparticle) 에서 재료 (materials) 와 집적회로 (integrated circuit) 에 이르기까지 다양한 샘플에 대한 상세한 이미징 및 분석을 수행하는 데 이상적인 도구입니다. 이 모델에는 이미지 제어 강화 (Enhanced Imaging Control) 용 디지털 카메라, 샘플 감상용 밝은 조명 조명 장치, 다양한 이미징 및 분석 기능 등이 포함되어 있어 다양한 실험 어플리케이션에 적합합니다.
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