판매용 중고 JEOL JSM 6700F #9248482

JEOL JSM 6700F SEM (Scanning Electron Microscope) 은 1äm에서 50호까지의 입자를 특성화하기위한 고급 이미징 및 분석 도구입니다. 최대 5,000 배율의 뛰어난 이미징 기능을 제공하며, 안전하고 반복 가능한 작동을 위해 물리적으로 진공 밀봉 된 챔버를 갖추고 있습니다. JEOL JSM 6700 F는 전자 열을 통해 뛰어난 표본 선명도를 제공하는 전용 SEM입니다. 이 장치는 최신 전자 광학 기술 (Electron Optical Technology) 을 사용하여 모든 크기와 모양의 입자를 쉽고 빠르게 관찰 할 수 있습니다. SEM 은 다양한 샘플 크기, 구성, 샘플 장착 (sample mounting) 기술을 수용할 수 있도록 설계되었으며, 광범위한 재료와 조건에서 최적의 이미징 기능을 제공합니다. JSM 6700F는 독특한 2 세대 가변 압력 검출기 디자인과 통합 된 가변 압력 샹벨을 갖추고 있습니다. 이러한 기능의 조합은 충전 효과를 최소화하여 이미지의 선명도와 보존을 제공합니다. 또한 SEM 의 가변 압력 검출기 (Variable Pressure Detector) 설계를 통해 매우 낮은 압력 수준에서 작동할 수 있으므로 샘플 크기에 관계없이 다양한 재료 및 미세 구조에 대한 자세한 이미지를 캡처할 수 있습니다. JSM 6700 F는 단순한 고정 중간 확대부터 고해상도 마이크로 그래피에 이르기까지 다양한 모드와 기술을 사용합니다. 모드별 검출기 (Mode-Specific Detector) 와 이미징 도구 (Imaging Tools) 가 장착되어 있으며, 기존 실험실 설정을 포함한 다양한 샘플 환경에서 사용할 수 있습니다. 또한 SEM은 다양한 연속 및 펄스 배출 모드 (continuous and pulsed emission mode) 에서 작동을 가능하게 하며, 다른 작동 매개변수 사이를 전환할 수 있습니다. SEM의 에너지 분산 X- 선 분광기 (EDS) 는 상세하고 고해상도 원소 분석을 용이하게합니다. 또한 JEOL JSM 6700F 에는 일관되고 안정적인 성능을 보장하는 다양한 자동 정렬 및 교정 기능이 포함되어 있습니다. 또한 JEOL JSM 6700 F 는 다양한 하이엔드 기능을 갖추고 있어 데이터 및 결과를 효율적으로 관리할 수 있습니다. 이 SEM 은 사용이 간편한 데이터 관리 시스템 및 통합 보고 (Integrated Reporting) 기능을 통해 결과를 빠르고 쉽게 보고할 수 있습니다. 전반적으로, JSM 6700F는 고급적이고 풍부한 SEM으로, 1 발에서 50 발의 입자에 대한 쉽고 안정적인 이미징 및 분석을 제공합니다. 자동화된 정렬, 조정 기능, 데이터 관리 기능과 결합된 통합 탐지기 (Integrated Detector) 및 이미징 도구 (Imaging Tools) 는 일관되고 정확한 결과를 보장하는 포괄적인 이미지 처리 및 분석 플랫폼을 제공합니다.