판매용 중고 JEOL JSM 6700F #9233189

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ID: 9233189
빈티지: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1 nm at 15 kV 2.2 nm at 1 kV Magnification: 25x - 650,000x Sample size: 40 mm (D) x 20 mm (H) Movement range: X: 70 mm Y: 50 mm Z: 1.5-25 mm Tilt: -5°-60° Rotation: 0°-360° Voltage: 0.5 kV - 30 kV (in 0.1 kV Step) OXFORD 7421 Energy Dispersive Spectrometer (EDS) Si-Li Detector Window: 10 mm² ULVAC G-100DC Vacuum pump 120 ml/min PHOENIXTEC C-6000 UPS, 6 kVA EYELA CA-1111 Circulating chiller Range: -20°C to 30°C Watt: 1200 W (1030 kcal/h) HP / HEWLETT-PACKARD XW4300 Computer Intel Pentium 4: 3.0 GHz RAM: 512 MB Hard Disk Drive (HDD): 500 GB Operating system: Windows XP HP / HEWLETT-PACKARD DC 7100 Computer Intel Pentium 4: 3.0 GHz RAM: 512 MB Hard Disk Drive (HDD): 500 GB Operating system: Windows XP HP / HEWLETT-PACKARD L1910 LCD Monitor, 19" HP / HEWLETT-PACKARD LE1911 LCD Monitor, 19" 2006 vintage.
JEOL JSM 6700F SEM (Scanning Electron Microscope) 은 단일 기기에 뛰어난 이미징 및 분석 기능을 결합합니다. 큰 배율로 고품질 이미지를 제공 할 수 있습니다. 이 시스템에는 전자 총 설계의 최신 기술인 냉장 방출 총 (FEG) 이 장착되어 있습니다. 이 FEG는 밝은 고해상도 전자빔을 제공하며, 1kV ~ 30kV 범위의 전자에너지를 사용할 수 있게 해 주며, 다양한 물질에 적합합니다. 또한 스캔 해상도 0.5nm의 고해상도 이미징을 제공합니다. JEOL JSM 6700 F는 직경이 최대 8 인치 인 샘플을 수용 할 수있는 작업 단계가있는 대형 챔버를 갖추고 있습니다. 유연성을 더욱 향상시키기 위해 표준용 샘플 홀더 (sample holder), 웨이퍼 기판 (wafer substrate) 및 자동 작동을위한 동력 단계 (motorized stage) 를 포함한 옵션 액세서리를 추가 할 수 있습니다. JSM 6700F 의 고급 기능을 사용하면 다양한 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. 고해상도는 표면에서 미세한 세부 사항을 이미징 할 수 있습니다. 또한 에너지 분산 X- 선 (EDX) 분광법, Auger 분광법 및 전자 트랩 기술로 구성 분석에 사용될 수 있습니다. 또한, 대형 챔버 (chamber) 와 자동화된 스테이지 (automated stage) 는 3D 이미징 및 지형 분석에 적합하므로 전체 샘플을 분석하고 이미지 처리 할 수 있습니다. JSM 6700 F 는 뛰어난 이미징 (imaging) 및 분석 기능 외에도 다양한 안전 (safety) 기능을 탑재하여 운영 중 사용자의 보호를 보장합니다. 여기에는 진공 연동 시스템, 비상 정지 스위치 및 과부하 보호 시스템이 포함됩니다. JEOL JSM 6700F는 뛰어난 이미징 및 분석 기능을 제공하는 다재다능하고 강력한 SEM입니다. 밝은 전자 빔, 대형 챔버 (large chamber) 및 다양한 액세서리 (accessory) 를 사용하여 광범위한 응용 분야에 활용할 수 있습니다. 또한 사용자 보호 및 보안을 위한 다양한 안전 (Safety) 기능도 제공합니다.
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