판매용 중고 JEOL JSM 6700F #293685416
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JEOL JSM 6700F 주사 전자 현미경은 다재다능하고 고성능 주사 전자 현미경입니다. 첨단 디자인 (Advanced Design) 을 통해 다양한 샘플의 고차원 해상도와 고대비 이미징을 제공 할 수 있습니다. 그것의 FEG (field emission gun) 전자 소스는 뛰어난 특성을 가지고 있으며, 저빔 전류, 저빔 발산 및 높은 밝기를 제공합니다. 결과적으로, 이것은 다양한 이미징 응용 프로그램에 이상적입니다. JEOL JSM 6700 F는 3kV 범위에서 20x ~ 200,000x, 0.5kV 범위에서 10x ~ 100,000x의 확대 범위를 제공합니다. 전자 전류는 0.5 nA에서 100 nA까지 다양합니다. 이미징의 경우, 최대 유틸리티를 위해 디지털 및 아날로그 인터페이스가 모두 장착됩니다. 두 개의 별도 디지털 카메라, 깊은 고갈 유형 (1K x 1K) 느린 스캔 및 고해상도 (2K x 2K) 빠른 스캔 CCD를 통해 매우 높은 해상도의 이미징이 가능합니다. 통합된 이미지 캡처 및 관리 소프트웨어를 통해 손쉬운 이미지 처리 및 파일 저장 (FMA) 작업을 수행할 수 있습니다. JSM 6700F는 2 차 전자 (SE) 이미징, BSE (backscattered electron) 이미징 및 에너지 분산 x- 선 분광법 (EDS) 과 같은 다양한 샘플 상호 작용을 수행 할 수 있습니다. 이를 통해 원소 구성 및 형태 학적 특징으로 샘플을 분석 할 수 있습니다. EDS 분석은 응용 프로그램에 따라 SDD 검출기 또는 X-MAX X-ray 분광기로 얻습니다. JSM 6700 F는 또한 다양한 샘플을 수용 할 수있는 다양한 진공 상태를 제공합니다. 기존의 진공 모드 (1 x 10-5 Torr) 또는 높은 진공 모드 (5 x 10-7 Torr) 에서 작동 할 수 있으며, 액체 질소 냉각과 결합하여 샘플을 동결하고 cryo-electron 현미경을 사용할 수 있습니다. 또한 JEOL JSM 6700F 는 특정 애플리케이션의 현미경을 사용자 정의할 수 있는 다양한 내장 옵션을 제공합니다. 또한, 현미경은 실제 in-situ 이미징 및 데이터 획득을 위해 자동화된 대규모 샘플 환경에 통합 될 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JSM 6700 F 는 다양한 애플리케이션에 적합한 높은 수준의 성능을 제공하며, 통합 옵션과 자동 (automated) 기능을 통해 실험실 및 처리량이 높은 이미징 목적에 적합한 옵션을 제공합니다.
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