판매용 중고 JEOL JSM 6700F #293652431

이 품목은 이미 판매 된 것 같습니다. 아래 유사 제품을 확인하거나 연락해 주십시오. EMC 의 숙련된 팀이 이 제품을 찾을 수 있습니다.

ID: 293652431
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDS Detector.
JEOL JSM 6700F는 샘플의 표면 구조에 대한 고해상도 이미지를 생성하도록 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고품질 디지털 이미지를 제작할 수 있으며, 자세한 분석이나 교육 목적으로 사용할 수 있습니다 (영문). JEOL JSM 6700 F는 집중된 전자 빔을 사용하여 샘플 표면을 스캔하여 2 차 전자 및 역산 전자 이미지를 생성합니다. 1 차 전자 빔은 전자 총을 사용하여 생성되며, 이는 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 로부터 미세한 전자 방출을 생성합니다. 그런 다음 원하는 해상도에 따라 전기장 내에서 이 빔이 가속됩니다. 그런 다음, 정전기 렌즈 시스템을 사용하여 빔을 집중시켜 서브 미크론 해상도 이미징을 허용합니다. JSM 6700F 는 성능 및 분석 기능을 향상시키는 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 최적화된 이미징을 위해 동적 초점과 낙인이 장착되어 있습니다. 또한 이미지 안정성을 유지하기 위해 프로브 전류 제어 시스템 (Probe Current Control System), 최대 3 개의 다른 신호에 대한 디스플레이 옵션, 디지털 이미지 처리 및 에너지 분산 분광법을위한 포스트 스퍼터 장치 (Post-Sputter Unit) 가 있습니다. JSM 6700 F는 사용자에게 친숙한 작업도 제공합니다. 기기에는 기존 매개 변수 외에도 자동 매핑 (auto-mapping) 및 사전 설정 모드 (preset mode) 와 같은 함수가 포함됩니다. 또한 사용자는 경도 매핑 (hardness mapping), 위상 식별 (phase identification), 분산 대비 이미징 등의 다양한 분석 도구를 활용할 수 있습니다. 확대된 이미지는 사용자가 선택한 모드에 따라 [단색] 또는 [색상] 으로 만들어집니다. 이미지를 고해상도 파일 또는 저해상도 파일로 내보내고 다른 사용자와 공유할 수 있습니다. 뛰어난 성능과 폭넓은 기능을 갖춘 JEOL JSM 6700F (JOL JSM 6700F) 는 분석/교육적 요구에 적합한 선택입니다.
아직 리뷰가 없습니다